Spettrometro a fluorescenza NEX DE VS

EDXRFdi processoper ispezione

NEX DE VS Il nuovo Rigaku NEX DE VS è un piccolo analizzatore da banco EDXRF ad alte prestazioni, il nuovo Rigaku NEX DE VS offre un'ampia copertura elementare con un software QuantEZ di facile apprendimento basato su Windows®. Piccole analisi spot, dal sodio (Na) all'uranio (U), di quasi tutte le matrici - da solidi, film sottili e leghe a polveri, liquidi e fanghi. Analisi elementare XRF in campo, impianto o laboratorio Appositamente progettato e progettato per un uso industriale pesante, sia a livello di impianto che in ambienti remoti sul campo, la potenza analitica superiore, la flessibilità e la facilità d'uso di NEX DE aggiunge al suo ampio appeal per una gamma sempre più ampia di applicazioni, tra cui esplorazione, ricerca, ispezione RoHS e formazione, nonché applicazioni industriali e di monitoraggio della produzione. Che si tratti del controllo qualità di base (QC) o delle sue varianti più sofisticate - come il controllo qualità analitico (AQC), l'assicurazione qualità (QA) o il controllo statistico di processo come Six Sigma - il NEX DE è la scelta affidabile e ad alte prestazioni per le analisi elementari di routine di XRF. XRF con tubo a raggi X 60kV e rilevatore SDD Il tubo a raggi X 60kV e il rivelatore di deriva al silicio FAST SDD® Silicon Drift Detector raffreddato Peltier offrono un'eccezionale ripetibilità a breve termine e riproducibilità a lungo termine con un'eccellente risoluzione di picco degli elementi. Questa capacità di alta tensione (60 kV), insieme alla corrente ad alta emissione e ai filtri multipli automatizzati per tubi radiografici, offre un'ampia gamma di applicazioni XRF, versatilità e bassi limiti di rilevamento (LOD).