Sistema a ultra alto vuoto (UHV) per microscopio a sonda a scansione (SPM) MULTIPROBE S

sistema a ultra alto vuoto (UHV) per microscopio a sonda a scansione (SPM)
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Caratteristiche

Applicazioni
per microscopio a sonda a scansione (SPM)

Descrizione

Il MULTIPROBE S costituisce la base della gamma di MULTIPROBE ed è il fondamento per le più grandi varianti di MULTIPROBE P e di MULTIPROBE RM. Il MULTIPROBE S è un singolo sistema di scienza UHV della superficie dell'alloggiamento con il grande alloggiamento di analisi di multi-tecnica per microscopia della sonda di spettroscopia dell'elettrone, di esame di UHV e la preparazione del campione. Un sistema di trasferimento del campione facilita il trasferimento del campione fra SPM, l'alloggiamento di analisi e la serratura veloce del carico del campione dell'entrata (FEL).

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Cataloghi

FOCUS PEEM
FOCUS PEEM
16 Pagine
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