Sistema a ultra alto vuoto (UHV) per microscopio a sonda a scansione (SPM) MULTIPROBE P,XP,XA,RM

Le varianti dedicate P, XP e RM della preparazione del campione standard sono adattate per misura facilmente il sistema di MULTIPROBE S, anche per un aggiornamento successivo. Il sistema di MULTIPROBE LTS può essere aggiornato in qualunque momento con la variante di XA o di XP. La soluzione potente di XA è una combinazione di un'analisi e di un alloggiamento della preparazione. Il MULTIPROBE P è un sistema di scienza UHV della superficie dell'doppio-alloggiamento con un grande alloggiamento di analisi di multi-tecnica per microscopia della sonda di spettroscopia dell'elettrone e di esame di UHV e un alloggiamento separato della preparazione del campione con FEL. Gli alloggiamenti della preparazione nel MULTIPROBE P offre le facilità della preparazione del campione standard come sviluppo della pellicola sottile o il campione che polverizza e che riscalda. Il MULTIPROBE XP è un sistema di scienza UHV della superficie dell'doppio-alloggiamento con un grande alloggiamento di analisi di multi-tecnica per microscopia della sonda di spettroscopia dell'elettrone e di esame di UHV e un alloggiamento separato della preparazione del campione con FEL. L'alloggiamento della preparazione nel MULTIPROBE XP offre la preparazione estesa del campione compreso il campione che polverizza, riscaldante e sviluppo della pellicola sottile con la descrizione in situ da LEED o da RHEED nel MULTIPROBE XP. Il MULTIPROBE RM è un sistema doppio di scienza UHV della superficie dell'alloggiamento con un grande alloggiamento di analisi di multi-tecnica per microscopia della sonda di spettroscopia e di esame dell'elettrone e un alloggiamento separato di MBE con la protezione di raffreddamento LN2 adatta idealmente per ricerca MBE e la descrizione in situ di sviluppo della pellicola sottile con RHEED