Profilometro ottico S wide

3Dper pezzi di grandi dimensioniindustriale

La S wide è un sistema dedicato, progettato per misurare rapidamente ampie aree di campione fino a 300 x 300 mm. Esso fornisce tutti i vantaggi di un microscopio digitale integrato in uno strumento di misura ad alta risoluzione. Estremamente facile da usare con un unico pulsante di acquisizione. Sistema di metrologia ottica 3D a grande area - Produzione avanzata - Archeologia e paleontologia - Elettronica di consumo - Dispositivi medici - Stampaggio - Ottica - Industria orologiera Ripetibilità di altezza sub-micron su tutta l'area estesa Misurazione dell'altezza di un solo colpo fino a 40 mm senza scansione Z Lenti bi-telecentriche a bassissima distorsione di campo che forniscono una metrologia accurata Scostamento di forma rispetto ai modelli CAD 3D fornendo la misura della differenza geometrica e della tolleranza