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Profilometri per semiconduttori
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... sull'asse Z offre un campo di misura completo di 100 mm con una risoluzione verticale nell'ordine dei nanometri. Questo profilometro ottico è caratterizzato da un design compatto con elettronica integrata e convince per ...

PROFILOMETRO OTTICO MODULARE PER RUGOSITÀ E MICROSTRUTTURE NM TopMap Micro.View+ è la nuova generazione della tecnologia di misurazione ottica delle superfici di Polytec. Il suo design modulare consente diverse configurazioni, ...


profilometro 3DSuperView W1-Pro
... Il profilometro ottico 3D SuperView W1 è uno strumento ideale per la misurazione sub-nanometrica di varie parti di precisione. Basato sul principio della tecnologia di interferenza della luce bianca, combinato con il ...
Chotest Technology Inc.

... Il profilometro ottico 3D SuperView W3 è uno strumento ideale per la misurazione sub-nanometrica di varie parti di precisione. Basato sul principio della tecnologia di interferenza della luce bianca, combinato con il ...
Chotest Technology Inc.

... Il profilometro ottico 3D SuperView W1 è uno strumento ideale per la misurazione sub-nanometrica di varie parti di precisione. Basato sul principio della tecnologia di interferenza della luce bianca, combinato con il ...
Chotest Technology Inc.

Range di misura: 0 mm
... industrie dei semiconduttori e dei semiconduttori composti, dei LED ad alta luminosità, dell'energia solare, dei sistemi microelettromeccanici MEMS, dei touch screen, delle apparecchiature automobilistiche ...
Chotest Technology Inc.

... La serie SJ5720-OPT è in grado di misurare sia la rugosità della superficie che il profilo dopo una sola scansione. Inoltre, è disponibile un modulo software dedicato per la misura e l'analisi di superfici asferiche di grandi dimensioni, ...
Chotest Technology Inc.

... S lynx 2 è un sistema ottico 3D compatto e versatile per la misurazione di rugosità, volume e dimensioni critiche. Acquisizione rapida L'S lynx 2 è dotato di tre tecniche di misura molto potenti: Interferometria, Confocal e Ai Focus ...

... offre prestazioni di produzione collaudate con capacità di gestione automatizzata dei wafer per i settori dei semiconduttori, dei semiconduttori composti, dei LED ad alta luminosità, dell'archiviazione ...
KLA Corporation

... Il profilatore senza contatto Zeta™-388 offre capacità di metrologia e imaging 3D, combinate con un tavolo di isolamento integrato e un sistema di movimentazione dei wafer da cassetta a cassetta per misure completamente automatizzate. ...
KLA Corporation

KLA Corporation

... altezza in linea per l'ispezione, il rilevamento, l'identificazione e la guida nei segmenti di mercato dell'elettronica, dei semiconduttori, dell'automotive e dell'automazione industriale. Velocità di scansione fino ...
Dalsa

... misurazione in linea, l'ispezione, l'identificazione e le applicazioni di guida nel settore automobilistico, elettronico, dei semiconduttori e dell'automazione di fabbrica. La serie Z-Trak fornisce risultati affidabili ...
Dalsa
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