Analizzatore di azoto DF-750

di ossigenodi idrogenodi monitoraggio

Il DF-750 è la scelta principale per l'analisi dell'umidità nell'industria dei semiconduttori Il DF-750 è un analizzatore di umidità in traccia/ultra traccia ottimizzato per le misure nei gas ad altissima purezza (UHP) utilizzati nelle fabbriche di semiconduttori da 300 mm. Misure di traccia/ultra traccia TDL ad alta stabilità Una soluzione senza compromessi Manutenzione semplice e riduzione dei costi correnti Progettato specificamente per effettuare misure di umidità in tracce e ultra-tracce in una gamma di gas UHP, il DF-750 è ottimizzato per le fabbriche di semiconduttori da 300 mm. Misura l'umidità come contaminante nei gas di grado elettronico azoto, idrogeno, elio, argon e ossigeno. La tecnologia di rilevamento Tunable Diode Laser (TDL) garantisce un limite di rilevamento inferiore (LDL) di 100 parti per trilione (ppt), leader del settore, assicurando che le misure stabili e altamente accurate del DF-750 soddisfino le precise esigenze di monitoraggio della produzione di semiconduttori. Il robusto DF-750 richiede una manutenzione limitata nel tempo e offre una stabilità a deriva zero, prolungando notevolmente gli intervalli di calibrazione. Questo basso costo di gestione, unito a prestazioni di misura eccezionali, fa del DF-750 la soluzione analitica di prima scelta per i controlli di qualità dei gas UHP. Misure di tracce/ultra-tracce TDL ad alta stabilità Il DF-750 è stato progettato per soddisfare gli eccezionali standard di purezza dei gas richiesti dai produttori di semiconduttori di tutto il mondo. Utilizzando la tecnologia di rilevamento TDL all'avanguardia, alloggiata in una cella di Herriot robusta e resistente, il DF-750 evita il contatto dell'umidità con i componenti del rilevamento ottico. Il risultato è un analizzatore che fornisce un'analisi ultra-sensibile