Analizzatore argon DF-750 ULTRA

di azotodi eliodi ossigeno

Il DF-750 ULTRA è la prima scelta per l'analisi dell'umidità nell'industria dei semiconduttori Il DF-750 ULTRA è un analizzatore trace/ultra-trace ottimizzato per fornire le migliori misure di umidità nei gas ad altissima purezza (UHP) utilizzati nelle fabbriche di semiconduttori da 300 mm. Misure di traccia/ultra traccia TDL ad alta stabilità Una soluzione senza compromessi Elevata affidabilità Progettato specificamente per effettuare misure di umidità in tracce e ultra-tracce in una gamma di gas UHP, il DF-750 ULTRA è ottimizzato per le fabbriche di semiconduttori da 300 mm. Misura l'umidità come contaminante nei gas per l'elettronica: azoto, idrogeno, elio, argon e ossigeno. La tecnologia di rilevamento Tunable Diode Laser (TDL) garantisce un limite di rilevamento inferiore (LDL) di 55 parti per trilione (ppt), leader nel settore, assicurando che le misure stabili e altamente accurate del DF-750 ULTRA soddisfino le precise esigenze di monitoraggio della produzione di semiconduttori. Il robusto DF-750 ULTRA ha requisiti di manutenzione ridotti nel tempo e offre una stabilità a deriva zero, prolungando notevolmente gli intervalli di calibrazione. Questo basso costo di gestione, unito a prestazioni di misura eccezionali, fa del DF-750 ULTRA la soluzione analitica di prima scelta per i controlli di qualità dei gas UHP. Il DF-750 ULTRA è stato progettato per soddisfare gli eccezionali standard di purezza del gas richiesti dai produttori di semiconduttori di tutto il mondo. Utilizzando la tecnologia di rilevamento TDL all'avanguardia, alloggiata in una cella Herriot robusta e resistente, il DF-750 ULTRA evita il contatto dell'umidità con i componenti del rilevamento ottico. Il risultato è un analizzatore che fornisce una misura ultra-sensibile,