Macchina per prova temperatura HS-LDTS2000

di qualitàdi prestazioneautomatica

HS-LDTS2000 è un tester delle prestazioni optoelettroniche per chip LD progettato per ambienti di produzione per valutare chip laser a lunghezza d'onda lunga in condizioni controllate a temperatura ambiente e ad alta temperatura. Integra la movimentazione automatica e l'imaging intelligente per supportare il controllo qualità ad alto rendimento.

Funzioni principali

• Flusso di lavoro di movimentazione e test automatico
• Ispezione aspetto AOI e riconoscimento OCR dei caratteri per facce frontali e terminali
• Elevata capacità di test

Aree di applicazione

• Fotonica
• Dispositivi di potenza
• Dispositivi RF a microonde
• Settore dei veicoli a nuova energia

Vantaggi

• Banco di controllo della temperatura sviluppato internamente con regolazione ad alta precisione adatto ai test a temperatura ambiente e ad alta temperatura
• Sistema di visione ad alta precisione con supporto per la riesaminazione per garantire la stabilità del prodotto
• Compatibilità di alimentazione — supporta 2" GEL-PAK e anello wafer da 6"
• Tavola rotante con postazioni separate e funzionamento sincronizzato per aumentare la produttività

Caratteristiche / Specifiche tecniche

• Capacità di test: parametri LIV e parametri spettrali della luce frontale e posteriore dei chip laser a lunghezza d'onda lunga in condizioni di temperatura ambiente e alta
• Metodi / processo di test: test delle prestazioni fotoelettriche dei chip LD (caratteristiche fotoelettriche e misurazione spettrale)
• Ambito prodotto: chip LD
• Gamma dimensionale del chip: minimo 0.15 x 0.2 mm; massimo 10.0 x 10.0 mm
• Efficienza dell'apparecchiatura: circa 4.5–6 S/PCS (a seconda dell'applicazione di test specifica)