Sistema di test da laboratorio S530

per semiconduttoricompattoad alta tensione

BEAVERTON, Oreo, 16 settembre 2021 /PRNewswire/ -- Tektronix, Inc., fornitore leader mondiale di soluzioni di test e misura, ha rilasciato oggi il software KTE V7.1 per il sistema di test parametrico Keithley serie S530 per contribuire ad accelerare la produzione di chip semiconduttori proprio quando il mercato mondiale ne ha più bisogno. Le nuove opzioni rese disponibili per la prima volta con la release KTE V7.1 includono una nuova capacità di test in parallelo e un'esclusiva opzione di test della capacità ad alta tensione per le applicazioni emergenti di potenza e ad ampio bandgap. KTE V7.1 migliora i tempi di test di oltre il 10% rispetto a KTE V5.8, il che significa che gli ingegneri possono ridurre i tempi morti e produrre chip più velocemente. L'emergere del 5G e la crescita dell'IoT hanno alimentato la domanda globale di semiconduttori. Le carenze globali non solo richiedono un aumento della produzione, ma anche una più rapida capacità di testare i nuovi chip in fase di sviluppo. Il rilascio da parte di Tektronix di questo nuovo sistema di test può contribuire ad accelerare la produzione diminuendo il tempo di test e quindi accelerando la consegna di nuovi chip sul mercato. "Le odierne tecnologie emergenti dei semiconduttori analogici, a banda larga (SiC e GaN) e di potenza richiedono test parametrici che massimizzino le prestazioni di misura, si rivolgano a un ampio mix di prodotti e riducano al minimo i costi", afferma Peter Griffiths, general manager, Systems & Software di Tektronix. "I nostri clienti, tra cui i più grandi produttori di chip del mondo, godranno dei miglioramenti di KTE V7.1 che consentiranno agli ingegneri di continuare a progettare innovazioni a un ritmo senza precedenti per soddisfare le richieste dei mercati in evoluzione."