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... risultati ai
sistemi MES
Parametri fisici — Misura di temperatura, velocità o capacità produttiva
Sistemi di test Bott
- Piattaforma modulare: stazioni di prova
... applicazioni includono il monitoraggio del processo di controllo dei semiconduttori (PCM), il test TEG e la selezione degli stampi La capacità di test in parallelo massimizza la produzione di test ...
... converte descrizioni di test in codice test ottimizzato.
Cosmic Equipment S.p.A.
... mantengono le condizioni di misura e favoriscono la coerenza tra
sistemi.
Sicurezza
I
sistemi offrono un'area di prova completamente chiusa con interblocchi monitorati per
test ad alta ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... Panoramica prodotto Il FTI‑1000 Wafer HV è un sistema ATE a livello wafer progettato per test ad alta copertura di dispositivi discreti di potenza e tecnologie wide‑bandgap. La variante Wafer HV fornisce sorgenti ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... completato in X, Y, Y, Z test di vibrazione sinusoidale a tre assi e test di vibrazione casuale a banda larga, da completare con il classico (mezzo seno - seno, trapezoidale, onda a dente di sega) impulso e shock response ...
... Panoramica del prodotto
La serie PST6747Ai è un
sistema di collaudo per
semiconduttori per la misurazione e l'analisi precise dei parametri statici dei dispositivi di potenza. Supporta fino a 3 kV (10 kV opzionale) ...
... Il DX-300 è un sistema automatico di prova dell'effetto Hall, una piattaforma di misura elettromagnetica completamente automatica per caratterizzare materiali semiconduttori e conduttivi, fornendo parametri elettrici ...
... software di sistema. Materiali testabili: - Materiali semiconduttori: SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe e materiali in ferrite, ecc; - Materiali a bassa impedenza: grafene, metalli, ossidi trasparenti, ...
... corrosione.
Funzioni di test
- Software
... di protezione e strumenti di prova di supporto. Utilizza un software di test di sistema sviluppato dall'azienda per fornire una piattaforma stabile e precisa per il test dei parametri dinamici dei dispositivi ...
... Caratteristiche del sistema: - Kit di test IPM basato su STS8200 - Specifica di prova: 2000V/100A DC, 200A AC dinamico - Prova statica e dinamica di parametri di sostegno - Doppio impulso programmabile e Multi-impulso TRR/IRR/TRI/TFV/TON/TCON/EON ...
... unità di misura. - Test ad alta efficienza, commutazione automatica e test con un solo tasto. -Interfaccia grafica per PC, l'utente può eseguire il test dopo una semplice configurazione. -Ampia gamma ...
Wuhan Precise Instrument Co.,Ltd
... Il IP750Ex-HD offre capacità di test per sensori d'immagine per dispositivi attuali e futuri, garantendo il costo di test più basso. - Sistema di test avanzato per sensori d'immagine ...
Teradyne
... Applicazioni e casi d'uso
- Test funzionale di moduli VCSEL: test LIV ad alta velocità e sincronizzati
- Test funzionali di dispositivi a semiconduttore: convalida
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