Sistema di test per ciclo di calore SM-ZOV665-W5(10)K

di sicurezza funzionaledi invecchiamentodi prestazione

Sistema di test dinamico SANWOOD a doppia porta per burn-in e HTOL di circuiti integrati Il modello SANWOOD SM-ZOV665-W5(10)K combina due camere riscaldate con schemi di test elettrici programmabili per eseguire in parallelo test dinamici di burn-in e di durata operativa ad alta temperatura (HTOL). Ciascuna camera può ospitare 16 schede di burn-in (BIB) montate orizzontalmente, per un totale di 32 slot per schede. Caratteristiche principali I vettori di test programmabili sottopongono i circuiti integrati alimentati a prove a temperature elevate. L’isolamento a livello di slot e la protezione da sovracorrente contribuiscono a contenere i guasti durante i test in parallelo. Il flusso d’aria orizzontale attraverso i rack delle schede aiuta a distribuire il calore sotto i carichi alimentati. Specifiche tecniche Modello — SM-ZOV665-W5(10)K, configurazione a doppia porta Intervallo di temperatura della camera — Da +10 °C a +150 °C rispetto alla temperatura ambiente Capacità BIB — 32 slot in totale, 16 per camera Dimensioni BIB — 450 × 570 mm Canali di segnale — 184 in totale, di cui 160 canali driver comuni e 24 canali I/O Frequenza di ripetizione massima del sistema — 20 MHz Memoria vettoriale — 64M parole Capacità del registro degli errori — 2K per I/O Alimentazione dei dispositivi — 8 canali per BIB nella configurazione predefinita Dimensioni interne per camera (L × A × P) — 800 × 1.320 × 630 mm Dimensioni complessive (L × A × P) — 3.160 × 2.470 × 1.600 mm Personalizzazione Le dimensioni interne delle camere e le configurazioni dei rack di test possono essere personalizzate per adattarsi alle dimensioni delle schede, alla spaziatura tra le schede e ai requisiti di caricamento. Applicazioni e riferimenti di prova Progettato per prove di affidabilità in parallelo di SoC automobilistici, microcontrollori, acceleratori AI, circuiti integrati di memoria e circuiti integrati di gestione dell’alimentazione. A seconda del dispositivo e del piano di test, i riferimenti pertinenti includono JEDEC JESD22-A108 per HTOL, AEC-Q100 Test B1 per HTOL di circuiti integrati automobilistici e MIL-STD-883 Metodo 1015 per il burn-in dei microcircuiti. Per ricevere una proposta di configurazione, comunicateci il tipo di dispositivo, i disegni BIB, la produttività prevista, il carico termico in funzionamento e il profilo di test. Pagina del prodotto — https://www.sanwood.us/products/188.html E-mail — info@sanwood.com