Sistema di test per ciclo di calore SC-588-CD-F
di sicurezza funzionaledi invecchiamentodi prestazione

Sistema di test per ciclo di calore - SC-588-CD-F - Sanwood Technology - di sicurezza funzionale / di invecchiamento / di prestazione
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Caratteristiche

Tipo di test
di prestazione, termico, di sicurezza funzionale, per ciclo di calore, di invecchiamento
Settore
per l'industria elettronica
Applicazioni
per semiconduttori, per circuiti integrati, PCB, memoria
Forma
in situ
Altre caratteristiche
automatico, a trasduttore multiplo

Descrizione

Sistema di test di burn-in per memorie eMMC SANWOOD Il sistema di test di burn-in per memorie eMMC SANWOOD combina temperature controllate della camera con sequenze programmabili di lettura, scrittura e cancellazione. Mantiene attivi i dispositivi eMMC durante lo stress termico e testa più dispositivi in parallelo per lo screening di produzione, i test di resistenza e la valutazione della ritenzione dei dati. Caratteristiche principali Test in parallelo dei dispositivi eMMC su schede di test ad alta densità Alimentazioni VCC e VCCQ programmabili indipendentemente per il test del margine di tensione in ogni slot Modelli di lettura, scrittura e cancellazione configurabili per mettere alla prova il controller flash integrato durante il burn-in Monitoraggio a livello di slot per facilitare l’identificazione dei dispositivi difettosi durante i test in parallelo Modelli e specifiche Intervallo di controllo della temperatura della camera — da −70 °C a +150 °C SC-588-CD-F — camera singola da 588 L Dimensioni interne SC-588-CD-F (L × A × P) — 800 × 1.050 × 700 mm Dimensioni esterne SC-588-CD-F (L × A × P) — 1.890 × 1.925 × 1.520 mm LS407H — Configurazione a doppia camera Dimensioni esterne LS407H (L × A × P) — 4.000 × 2.120 × 1.520 mm Personalizzazione Le dimensioni interne delle camere e le configurazioni dei rack di collaudo possono essere personalizzate in base alle dimensioni delle schede di collaudo, alla spaziatura richiesta tra le schede e al numero di slot desiderato. Applicazioni e riferimenti di collaudo Progettato per dispositivi di archiviazione integrati utilizzati nell’elettronica automobilistica, nei controllori industriali, nelle apparecchiature di rete e nei dispositivi IoT. I piani di test possono fare riferimento allo standard JEDEC JESD84-B51 per l’interfaccia eMMC 5.1 e, ove applicabile, allo standard JESD22-A117 o AEC-Q100-005 per la valutazione della resistenza e della ritenzione dei dati. Per ricevere una proposta di configurazione, comunicateci il tipo di contenitore eMMC, i disegni della scheda di test, il numero di slot previsto e il profilo di temperatura. Pagina del prodotto — https://www.sanwood.us/products/190.html E-mail — info@sanwood.com

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Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

electronica Munich 2026
electronica Munich 2026

10-13 nov 2026 Munich (Germania) Hall C2 - Stand 130

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    Semicon
    Semicon

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