Sistema di test per ciclo di calore SM-ZOV665-W5K

di sicurezza funzionaledi invecchiamentodi prestazione

Sistema SANWOOD a porta singola per test dinamici di burn-in e HTOL dei circuiti integrati Il modello SANWOOD SM-ZOV665-W5K combina una camera a temperatura controllata con schemi di test elettrici programmabili per l’esecuzione di test dinamici di burn-in e di durata operativa ad alta temperatura (HTOL). Esegue il burn-in dei circuiti integrati alimentati su schede di burn-in (BIB) a temperature elevate, consentendo agli ingegneri di monitorare il comportamento dei dispositivi durante lo stress termico ed elettrico. Caratteristiche principali Vettori di test programmabili per il collaudo della logica e della memoria dei circuiti integrati durante il burn-in Isolamento dell’alimentazione a livello di slot e limiti di corrente programmabili Registrazione di tensione, corrente e temperatura per ogni singolo slot ai fini dell’analisi dei guasti Specifiche tecniche Modello — SM-ZOV665-W5K, configurazione a porta singola Intervallo di temperatura della camera — Da +10 °C a +150 °C Capacità delle schede di burn-in — 16 slot Dimensioni delle schede di burn-in — 450 × 570 mm Canali di segnale — 184 in totale, di cui 160 canali driver comuni e 24 canali I/O Frequenza di ripetizione massima del sistema — 20 MHz Memoria vettoriale — 64 M parole Capacità del registro errori — 2 K per I/O Alimentazione dei dispositivi — 8 canali per BIB nella configurazione predefinita Dimensioni interne (L × A × P) — 800 × 1.320 × 630 mm Dimensioni esterne (L × A × P) — 1.920 × 2.287 × 1.600 mm Personalizzazione Le dimensioni interne della camera e le configurazioni dei rack di test possono essere personalizzate per adattarsi alle dimensioni del BIB, alla spaziatura delle schede e ai requisiti di caricamento. Applicazioni e riferimenti di test Adatto per lo screening tramite burn-in e la valutazione della durata operativa di SoC automobilistici, microcontrollori, acceleratori AI, circuiti integrati di memoria e circuiti integrati di gestione dell’alimentazione. A seconda del dispositivo e del piano di test, i riferimenti pertinenti includono JEDEC JESD22-A108 per HTOL, AEC-Q100 Test B1 per HTOL dei circuiti integrati automobilistici e MIL-STD-883 Metodo 1015 per il burn-in dei microcircuiti. Per ricevere una proposta di configurazione, comunicateci il tipo di dispositivo, i disegni BIB, il carico elettrico e il profilo di test richiesto. Pagina del prodotto — https://www.sanwood.us/products/189.html E-mail — info@sanwood.com