Sistema di test di resistività DXHCR1100

di processoper semiconduttoriper cella a combustibile

Panoramica del prodotto
Gli strumenti Dexinmag misurano l'interazione termolettrica (effetti Seebeck, Peltier, Thomson) acquisendo simultaneamente coefficiente di Seebeck e resistività dalla temperatura ambiente (RT) fino a 1500°C. La forza termolettrica (coefficiente di Seebeck) è espressa in V/K e dipende dalla temperatura. La piattaforma DXHCR1100 supporta atmosfere controllate e geometrie di campione flessibili per R&S e controllo qualità.

Aree di applicazione

• Sviluppo di materiali termolettrici: misura del coefficiente di Seebeck e della conduttività elettrica per semiconduttori, skutteruditi e altri materiali TE; calcolo di ZT e valutazioni ad alta temperatura fino a 1500°C o in atmosfere controllate (vuoto/riducente/ossidante).
• Caratterizzazione di materiali elettronici e funzionali: studi di trasporto elettrico su film sottili semiconduttori, polimeri conduttivi e ossidi metallici; curve resistenza‑temperatura di superconduttori ad alta temperatura e compositi ceramici.
• Materiali e dispositivi per l'energia: analisi di resistività e caratteristiche di contatto/interfaccia per elettrodi Li‑ion e elettroliti solidi; test di conduttività dei catalizzatori per fuel cell in diverse atmosfere.
• Controllo qualità industriale e ottimizzazione dei processi: prove termo‑elettriche di leghe, ceramiche e materiali carboniosi per guidare la sinterizzazione; valutazione di rivestimenti e materiali resistenti a temperature elevate e corrosione.
• Ricerca accademica e test standardizzati: piattaforma adeguata per università, istituti di ricerca e test di certificazione secondo standard (es. ASTM E1225).

Funzioni di test

• Software di misura intelligente integrato (Windows 10/11) per eccitazione automatica, acquisizione dati, elaborazione in tempo reale ed esportazione risultati.
• Modelli di test e input parametri ridotto per flussi di misura ripetibili.
• Acquisizione e analisi in tempo reale, confronto fino a 32 curve di misura, sottrazione e sovrapposizione curve.
• Strumenti di analisi avanzata: zoom delle curve, derivate prima/seconda, analisi multi‑picco e supporto per metodi complementari (DSC, TG, TMA, DIL).
• Calibrazione multipunto della temperatura e routine entalpia/flujo termico Cp; import/export ASCII ed esportazione in MS Excel.
• Controllo sequenziale dei segnali e supporto per esperimenti di lunga durata.

Vantaggi del prodotto

• Ampia gamma di temperatura e atmosfere controllate: RT a 800/1100/1500°C (opzioni); compatibile con atmosfere inerti, ossidanti, riducenti e vuoto.
• Precisione elevata e modalità di misurazione integrate: gamma Seebeck 1–2500 μV/K (accuratezza ±7%, ripetibilità ±3%); conduttività elettrica 0,01–2×10⁵ S/cm (accuratezza ±5–8%, riproducibilità ±3%). Metodi: DC statico per Seebeck, quattro sonde per resistività.
• Gestione campioni flessibile: supporta cilindri (φ6 mm × 23 mm), prismi (2–5 mm larghezza × 23 mm) e dischi (10 / 12,7 / 25,4 mm); distanza sonde regolabile 4/6/8 mm e staffa a sandwich.
• Stabilità a lungo termine e funzionamento ad alta temperatura: alimentazione 0–1 A con uscita stabile; elettrodi in nichel (−100–500°C) o platino (−100–1500°C); termocoppie K/S/C e controllo in anello chiuso.

Specifiche del prodotto

• Modello: DXHCR1100
• Intervallo di temperatura: RT a 800/1100/1500°C (configurabile)
• Principi di misura: Seebeck — DC statico; Resistività — quattro sonde
• Atmosfere: inerte, ossidante, riducente, vuoto
• Porta campione: serraggio a sandwich tra due elettrodi
• Dimensioni supportate: cilindro φ6×23 mm; prisma 2–5 mm × 23 mm; dischi 10 / 12,7 / 25,4 mm
• Distanza sonde regolabile: 4 / 6 / 8 mm
• Intervallo Seebeck: 1–2500 μV/K (±7% accuratezza, ±3% ripetibilità)
• Intervallo conduttività elettrica: 0,01–2×10⁵ S/cm (±5–8% accuratezza, ±3% riproducibilità)
• Alimentazione: 0–1 A (uscita stabile)
• Materiale elettrodi: Nichel (−100 a 500°C) / Platino (−100 a +1500°C)
• Termocoppie: tipi K / S / C

Specifiche tecniche

• Modello: DXHCR1100
• Opzioni temperatura: RT–800/1100/1500°C
• Metodo Seebeck: DC statico
• Metodo resistività: quattro sonde
• Atmosfere compatibili: inerte, ossidante, riducente, vuoto
• Distanza sonde: 4 / 6 / 8 mm
• Tipologie di campione: cilindri, prismi, dischi (dimensioni sopra)