Strumento di caratterizzazione dielettrico

Panoramica

Il sistema di misura dielettrica è una piattaforma di analisi di impedenza/dielettrica con controllo temperatura per la caratterizzazione elettrica di materiali isolanti e funzionali su un ampio intervallo di temperature e frequenze. Supporta misure continue e ad alta velocità ed è espandibile per prove aggiuntive come prove di rottura e TSDC.

Parametri di misura

• Intervallo di temperatura: -185°C a 600°C
• Precisione controllo temperatura: ±0,25°C
• Velocità di salita: fino a 10°C/min (configurabile)
• Dimensione del campione: φ < 25 mm; spessore < 4 mm
• Materiale degli elettrodi: Platino
• Materiale ausiliario della pinza: Ceramica nitruro di alluminio
• Frequenza di prova: 20 Hz – 10 MHz (capacità fino a 30 MHz secondo configurazione)
• Refrigerazione a basse temperature: Azoto liquido
• Metodo di riscaldamento: Riscaldamento tramite elettrodo in CC
• Metodo di raffreddamento: Raffreddamento ad acqua
• Trasmissione dati: RS-232
• Tensione di alimentazione: 110–220 V
• Dimensioni apparecchiatura: 180 mm × 210 mm × 50 mm

Caratteristiche

• Riscaldamento tramite elettrodo DC e filtraggio per eliminare le interferenze armoniche della rete e migliorare la stabilità delle misure.
• Metodo di misura a tre elettrodi e cavi adattati in impedenza per ridurre gli errori dovuti all'impedenza dei conduttori e ai limiti di schermatura ad alta temperatura.
• Misura ottimizzata della temperatura del campione e progettazione degli elettrodi (es. rivestimenti conduttivi sputterati) per minimizzare capacità parassite ed effetti spaziali.
• Architettura espandibile per funzioni aggiuntive come prove di rottura e Corrente di Depolarizzazione Termicamente Stimolata (TSDC).

Software operativo

• Software basato su LabVIEW: stabile, salva i dati in caso di interruzione di corrente e i dati immagine; compatibile con Windows XP, 7 e 10.
• Interfaccia multilingue: supporta cinese e inglese.
• Monitoraggio in tempo reale, legende/icona stato, gestione permessi utente e allarme guasti dell'apparecchiatura.
• Report personalizzabili con stampa con un clic ed esportazione in Excel e PDF; curve e immagini di misura salvabili.
• Compatibile con analizzatori di impedenza Keysight (E4990, E4991, E4980A), Wayne Kerr (6500B, 6530, 4235), Tonghui (2983, 2838, 2851) e dispositivi simili.

Parametri misurati e funzioni di prova

• Spettro dielettrico in funzione della temperatura e spettro in frequenza.
• Grandezze elettriche misurate: ε' (reale) e ε'' (immaginaria) della permissività; C' e C'' parti reale/immaginaria della capacità; perdita D; R' e R'' resistenza; Z (Z', Z'') impedenza; Y (Y', Y'') ammettenza; X reattanza; fattore di qualità Q; diagramma di Cole‑Cole; coefficiente di accoppiamento elettromeccanico Kp.
• Selezione modalità: modalità parallelo e serie secondo il circuito equivalente.
• Frequenza di misura: configurabile via software.
• Elaborazione dati e immagini: dati di misura e curve esportabili e salvabili.

Specifiche tecniche

• Intervallo di temperatura: -185°C a 600°C
• Precisione controllo temperatura: ±0,25°C
• Velocità di rampe: fino a 10°C/min (impostabile)
• Dimensione del campione: φ < 25 mm; spessore < 4 mm
• Materiale elettrodi: Platino
• Materiale ausiliario pinza: Ceramica nitruro di alluminio
• Metodo di riscaldamento: riscaldamento elettrodo DC
• Refrigerazione basse temperature: Azoto liquido
• Metodo di raffreddamento: Raffreddamento ad acqua
• Frequenza di prova (tipica): 20 Hz – 10 MHz; capacità fino a 30 MHz (dipende dalla configurazione)
• Trasmissione dati: RS-232
• Tensione di alimentazione: 110–220 V
• Dimensioni apparecchiatura: 180 mm × 210 mm × 50 mm