Sistema di test per laboratorio MX710D SiC

per semiconduttoriin situdi precisione

Introduzione del prodotto
La serie MX710D è un sistema di test dinamico da laboratorio per SiC, composto da un'alimentazione CC programmabile ad alta precisione, unità fixture, unità di misura e controllo, unità di controllo driver, unità di protezione e strumenti di prova di supporto. Utilizza un software di test di sistema sviluppato dall'azienda per fornire una piattaforma stabile e precisa per il test dei parametri dinamici dei dispositivi SiC, incluse le caratteristiche di accensione, spegnimento, recupero inverso del diodo e comportamento in cortocircuito.

Caratteristiche del prodotto

• Progettato per applicazioni di laboratorio con funzioni di test complete; supporta test a impulso singolo, doppio e test di cortocircuito;
• Dotato di protezione da sovracorrente che interrompe rapidamente il circuito in caso di guasto del dispositivo;
• Induttanza parassita molto bassa grazie a un design compatto per soddisfare i test di commutazione ad alta velocità dei dispositivi SiC;
• Alta compatibilità: configurabile per vari dispositivi, moduli e circuiti tramite apparecchiature e fixture di test adeguati;
• Interfaccia HMI intuitiva per un'operatività semplice.

Interfaccia prodotto / Immagini
(La pagina fornisce più segnaposto per immagini dimostrative; la pagina reale mostra diagrammi del prodotto e schermate dell'interfaccia)

Campo di applicazione
Adatto per laboratori che testano le caratteristiche dinamiche dei dispositivi in carburo di silicio (SiC), per la verifica dei parametri e la ricerca e sviluppo.

Caratteristiche / Specifiche tecniche (sintesi)

• Modello: serie MX710D;
• Dispositivi applicabili: dispositivi di potenza SiC (carburo di silicio);
• Componenti del sistema: alimentazione CC programmabile, unità fixture, unità di misura e controllo, unità di controllo driver, unità di protezione e strumenti di prova di supporto;
• Tipi di test supportati: accensione, spegnimento, recupero inverso del diodo, cortocircuito; supporta test a impulso singolo e doppio;
• Protezione: protezione da sovracorrente con interruzione rapida del circuito;
• Progettazione: bassa induttanza parassita per soddisfare i test di commutazione ad alta velocità dei dispositivi SiC;
• Software: software di test di sistema sviluppato dall'azienda e interfaccia HMI.