Panoramica prodottoLa serie MX300R è un sistema di prova per invecchiamento sotto stress di tensione ad alta temperatura in polarizzazione inversa. Integra unità di riscaldamento, controllo della temperatura, sorgenti alta/bassa tensione e unità di controllo e acquisizione dati. Progettato per eseguire test di invecchiamento per stress di tensione su dispositivi di potenza (IGBT, SiC, MOSFET, diodo) per valutare l'affidabilità sotto stress termico ed elettrico.
Caratteristiche principali- Elevata precisione di misura: selezione automatica della scala di corrente in base alla corrente di perdita misurata per garantire precisione;
- Monitoraggio e registrazione in tempo reale: acquisizione continua della temperatura di prova, tensione per canale e corrente di perdita con curve complete delle variazioni;
- Protezione indipendente contro rotture HV: dispositivi di protezione in serie per ogni postazione per prevenire danni alla scheda di prova in caso di guasto del dispositivo;
- Ampia compatibilità dispositivi: supporta dispositivi di potenza Si/SiC/GaN, sia in die discreti che in moduli (IGBT, MOSFET, DIODE).
Specifiche / Dati tecnici- Modello: MX300R
- Tipo di prova: invecchiamento per stress di tensione ad alta temperatura (polarizzazione inversa)
- Componenti principali: unità di riscaldamento, controller di temperatura, sorgenti alta/bassa tensione, unità di controllo e acquisizione
- Dispositivi applicabili: IGBT, SiC, MOSFET, DIODE (die discreti e moduli)
- Protezione: protezione indipendente contro rotture ad alta tensione e dispositivi di protezione in serie per postazione
- Acquisizione dati: monitoraggio in tempo reale di temperatura, tensione per canale e corrente di perdita con registrazione delle curve
- Precisione di misura: commutazione automatica della scala di corrente in base alla perdita reale per mantenere la precisione
- Nota: la pagina non fornisce EAN, prezzo o scheda tecnica testuale completa (alcune specifiche sono mostrate in immagini)