Sistema di test di prestazione MX700KGD-600

per IGBTin situautomatico

Introduzione del prodotto
La serie MX700KGD è un sistema automatizzato di test e selezione dinamica/statica per die nudi, progettato principalmente per chip SiC MOS e IGBT. Il sistema è composto dall'unità di test, dalle apparecchiature di automazione e dall'insieme probe card, e misura corrente e tensione nominali per valutare le prestazioni elettriche e l'integrità del die.

Funzionamento
Il meccanismo di sollevamento della postazione di test alza il portadie finché la probe card non entra in contatto con il die. La camera di pressione della probe card è sigillata e consente la calibrazione automatica dell'altezza del die per garantire un contatto stabile.

Scheda tecnica
Parametri tecnici test dinamico
Parametri tecnici test statico

Caratteristiche

• Copertura completa dei test con funzioni configurabili in base alle esigenze del cliente, inclusa ispezione visiva e test dinamici/statici a temperature elevate o ambiente;
• Capacità di test ad alta tensione e alta corrente per verificare le specifiche nominali dei die nudi;
• Basse parassiticità: induttanza parassita del sistema inferiore a 20 nH;
• Alta produttività: UPH di test fino a 600 pezzi o più;
• Protezione gassosa per prevenire archi e ossidazione durante i test.

Caratteristiche / Dettagli tecnici

• Dispositivi applicabili: selezione dinamica/statica per die di potenza come SiC MOS e IGBT;
• Composizione del sistema: unità di test principale, apparecchiature di automazione (portadie, meccanismo di sollevamento) e assemblaggio probe card;
• Capacità di test: misurazione della corrente nominale e della tensione nominale e valutazione conformità/non conformità;
• Sollevamento e contatto: il sollevamento della postazione spinge il portadie fino al contatto della sonda; la camera di pressione della probe card assicura un contatto sigillato e stabile;
• Autocalibrazione: funzione di calibrazione automatica dell'altezza del die;
• Caratteristiche elettriche: supporta test ad alta tensione e alta corrente per soddisfare le specifiche nominali dei die nudi;
• Parametri parassiti: induttanza parassita del sistema < 20 nH;
• Produttività: UPH di test ≥600 pezzi/ora;
• Protezione: schermatura gassosa per prevenire archi e ossidazione durante i test;
• Configurabilità: funzioni e configurazioni di test personalizzabili secondo il cliente, supporto per ispezione visiva e test dinamici/statici a diverse temperature.