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... Panoramica
Edge Series comprende tre
sistemi compatti di misurazione per visione, progettati per la
metrologia in produzione e la verifica dimensionale di piccoli componenti di precisione. La gamma supporta ...
... I sistemi metrologici Therma-Probe® per impianti ionici e ricottura consentono il monitoraggio in linea della dose di impianto per una serie di tecnologie di semiconduttori, compresi i dispositivi a nodo di progettazione ...
... Panoramica del prodotto Sistema IMPULSE V Con tolleranze di uniformità più strette da wafer a wafer e all'interno del wafer, i sistemi di metrologia integrata sono utilizzati in diverse fasi di lavorazione ...
Onto Innovation Inc.
... all'avanguardia. Il nuovo sistema di metrologia Atlas V è stato progettato per misurare diversi passaggi chiave che includono caratteristiche sepolte, non visibili con CD-SEM e altre tecniche. Grazie ai notevoli miglioramenti ...
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... superano le 200 coppie. Il sistema di metrologia Aspect è stato progettato tenendo conto di queste architetture e strategie di scalatura future. La metrologia Aspect sta dimostrando prestazioni superiori ...
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... La serie IVS offre metrologia ottica overlay e CD per i mercati dei semiconduttori, dei semicomposti, dei dispositivi di potenza, RF, MEMS e LED. I sistemi offrono prestazioni di misura ...
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... precisione di ogni fase critica del processo dei semiconduttori. Il sistema incorpora un robot a doppio braccio, uno stadio ad alta precisione e un sistema di messa a fuoco ad alta velocità. Il sistema ...
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... ultrasuoni a picosecondi, o tecnologia PULSE™, è lo standard industriale per la metrologia dei film metallici. Il sistema Echo™ è l'ultima novità della famiglia di prodotti di metrologia acustica di Onto ...
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... Il sistema RPMBlue è un mappatore a fotoluminescenza (PL) in grado di soddisfare le esigenze di quasi tutti gli utilizzatori di semiconduttori composti. Panoramica del prodotto Il sistema RPMBlue è ...
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... QS1200 FTIR è un sistema da tavolo per il monitoraggio degli agenti dopanti, la misura dello spessore dell'epinefrina e altre applicazioni Panoramica del prodotto Il sistema QS1200 è progettato specificamente per i ...
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... Panoramica del prodotto Il sistema QS2200 è uno strumento metrologico FTIR specificamente progettato per l'analisi non distruttiva dei wafer. Viene utilizzato per la caratterizzazione e la misurazione di materiali semiconduttori, ...
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... Informazioni sul sistema di metrologia manuale per semiconduttori Lo spessimetro per wafer Proforma 300i è un sistema di misura differenziale basato sulla capacità che esegue misure ...
... Soluzione metrologica MESO Il sistema di metrologia MESO è una soluzione unica per molte sfide della metrologia ottica. Le misure in officina assicurano il controllo di qualità e il controllo di processo ...
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