Sistema di test per semiconduttori Magnum V

automatico

Il sistema Magnum V di Teradyne offre un'elevata capacità di throughput e un'elevata efficienza di test parallelo per test di NAND Flash e memorie DRAM ad alte prestazioni. - Elevato throughput e efficienza di test parallelo - Progettato per test di memoria NAND Flash e DRAM ad alte prestazioni Caratteristiche principali: - Supporta dispositivi di memoria NAND Flash e DRAM avanzati - Ottimizzato per ambienti di produzione ad alto volume - Architettura scalabile per le tecnologie di memoria future - Elevato parallelismo per massimizzare l'efficienza delle celle di test - Copertura di test completa per prodotti di memoria di nuova generazione Applicazioni: - Test di memoria NAND Flash - Test di memoria DRAM Specifiche tecniche: - Sistema: Magnum V - Tipi di test: NAND Flash, DRAM - Elevato throughput e parallelismo - Scalabile per le tecnologie di memoria future