Spettrometro di fotoelettroni a raggi X per l'analisi delle superfici ad alte prestazioni.
Spettrometro di fotoelettroni a raggi X K-Alpha
Il sistema di spettrometro fotoelettronico a raggi X (XPS) K-Alpha di Thermo Scientific offre un nuovo approccio all'analisi delle superfici. Focalizzato sulla fornitura di risultati di alta qualità grazie a un flusso di lavoro semplificato, il sistema K-Alpha XPS rende le operazioni XPS semplici e intuitive, senza alcun sacrificio in termini di prestazioni o capacità.
Prestazioni all'avanguardia, costi di gestione ridotti, maggiore facilità d'uso ed elevata produttività dei campioni rendono il sistema K-Alpha XPS ideale per un ambiente multiutente. Il sistema K-Alpha XPS consente a un maggior numero di ricercatori in tutto il mondo di accedere all'analisi delle superfici.
Caratteristiche dello spettrometro di fotoelettroni a raggi X K-Alpha
Sorgente di raggi X ad alte prestazioni
Il monocromatore a raggi X consente di selezionare l'area di analisi da 50 µm a 400 µm con incrementi di 5 µm, adattandola all'elemento di interesse per massimizzare il segnale.
Ottica elettronica ottimizzata
La lente elettronica ad alta efficienza, l'analizzatore emisferico e il rivelatore consentono un'eccellente rilevabilità e una rapida acquisizione dei dati.
Visualizzazione del campione
Mettete a fuoco le caratteristiche del campione grazie al sistema di visualizzazione ottica brevettato del sistema K-Alpha XPS e alla XPS SnapMap, che vi aiuta a individuare rapidamente le aree di interesse.
Analisi degli isolanti
La sorgente a doppio fascio brevettata accoppia fasci di ioni a bassa energia con elettroni a bassissima energia (meno di 1 eV) per evitare la carica del campione durante l'analisi, eliminando così la necessità, nella maggior parte dei casi, di fare riferimento alla carica.
Profilazione in profondità
Andate oltre la superficie con la sorgente ionica EX06. L'ottimizzazione automatica della sorgente e la gestione dei gas garantiscono prestazioni eccellenti e riproducibilità sperimentale.
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