Spettrometro fotoelettronico a raggi X Nexsa G2 XPS

di acquisizione datiautomatizzato

Spettrometro di fotoelettroni a raggi X con analisi automatizzata delle superfici e capacità multi-tecniche. Spettroscopia di fotoelettroni a raggi X Il sistema di spettrometro fotoelettronico a raggi X (XPS) Nexsa G2 di Thermo Scientific offre un'analisi delle superfici completamente automatizzata e ad alto rendimento, fornendo i dati necessari per far progredire la ricerca e lo sviluppo o per risolvere i problemi di produzione. L'integrazione dell'XPS con la spettroscopia di diffusione ionica (ISS), la spettroscopia di fotoelettroni UV (UPS), la spettroscopia di perdita di energia degli elettroni riflessi (REELS) e la spettroscopia Raman, consente di condurre una vera analisi correlativa. Il sistema include ora opzioni per il riscaldamento e la polarizzazione del campione per aumentare la gamma di esperimenti possibili. Il sistema di analisi delle superfici Nexsa G2 sblocca il potenziale per i progressi nella scienza dei materiali, nella microelettronica, nello sviluppo delle nanotecnologie e in molte altre applicazioni. Sorgente di raggi X ad alte prestazioni Un nuovo monocromatore a raggi X a bassa potenza consente di selezionare l'area di analisi da 10 µm a 400 µm con incrementi di 5 µm, garantendo la raccolta di dati dalla caratteristica di interesse e massimizzando il segnale. Ottica elettronica ottimizzata La lente elettronica ad alta efficienza, l'analizzatore emisferico e il rivelatore consentono un'eccellente rilevabilità e una rapida acquisizione dei dati. Visualizzazione del campione Mettete a fuoco le caratteristiche del campione grazie al sistema di visualizzazione ottica brevettato del Nexsa XPS System e alla XPS SnapMap, che vi aiuta a individuare rapidamente le aree di interesse utilizzando un'immagine XPS completamente a fuoco.