Spettrometro UV Nexsa G2 XPS

a raggi Xfotoelettronico a raggi Xdi acquisizione dati

Il sistema Thermo Scientific Nexsa G2 per la spettrometria di fotoelettroni a raggi X (XPS) offre un'analisi delle superfici completamente automatizzata e ad alto rendimento, fornendo i dati necessari per far progredire la ricerca e lo sviluppo o per risolvere i problemi di produzione. Integrando l'XPS con la spettroscopia di diffusione ionica (ISS), la spettroscopia di fotoelettroni UV (UPS), la spettroscopia di perdita di energia degli elettroni riflessi (REELS) e la spettroscopia Raman, è possibile condurre una vera analisi correlativa. Il sistema include ora opzioni per il riscaldamento e la polarizzazione del campione per aumentare la gamma di esperimenti possibili. Il sistema di analisi delle superfici Nexsa G2 sblocca il potenziale per i progressi nella scienza dei materiali, nella microelettronica, nello sviluppo delle nanotecnologie e in molte altre applicazioni. Caratteristiche del sistema di analisi delle superfici Nexsa G2 Sorgente di raggi X ad alte prestazioni Un nuovo design ottimizzato del monocromatore a raggi X consente di selezionare un'area di analisi da 10 µm a 400 µm con incrementi di 5 µm, garantendo la raccolta di dati dalla caratteristica di interesse e massimizzando il segnale. Ottica elettronica ottimizzata La lente elettronica ad alta efficienza, l'analizzatore emisferico e il rivelatore consentono un'eccellente rilevabilità e una rapida acquisizione dei dati. Visualizzazione del campione XPS Mettete a fuoco le caratteristiche del campione con il sistema di visualizzazione ottica brevettato del Nexsa G2 Surface Analysis System e la XPS SnapMap, che vi aiuta a individuare rapidamente le aree di interesse. Analisi XPS degli isolanti La sorgente a doppio fascio brevettata accoppia fasci di ioni a bassa energia con elettroni a bassissima energia (meno di 1 eV) per evitare la carica del campione durante l'analisi, eliminando così la necessità, nella maggior parte dei casi, di fare riferimento alla carica.