Microscopio a raggi X ZEISS XRADIA Versa
per analisiper materiali3D

Microscopio a raggi X - ZEISS XRADIA Versa - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - per analisi / per materiali / 3D
Microscopio a raggi X - ZEISS XRADIA Versa - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - per analisi / per materiali / 3D
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Caratteristiche

Tipo
a raggi X
Applicazioni tecniche
per analisi, per materiali
Tecniche di osservazione
3D
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione

Descrizione

Provate la potenza dei microscopi a raggi X ZEISS Versa, la scelta collaudata di ricercatori e scienziati di tutto il mondo. I Versa XRM sono dotati di interfacce utente intuitive, che consentono a ogni utente di massimizzare la propria produttività e di ottenere risultati eccezionali. Privilegiando la risoluzione reale in ambienti pratici, i Versa XRM consentono di osservare anche i dettagli più piccoli con una chiarezza senza pari. Rinomato per la sua stabilità e precisione, l'impegno di ZEISS per la qualità è evidente in ogni aspetto di Versa XRM. Fidatevi del fatto che il vostro investimento resisterà alla prova del tempo, soddisfacendo le vostre esigenze per gli anni a venire. ZEISS VersaXRM 730 offre una gamma di scelte più ampia di qualsiasi altro XRM avanzato presente sul mercato. Il sistema offre prestazioni di risoluzione rivoluzionarie, porta l'accessibilità a un livello superiore grazie a un'esperienza utente intuitiva e accelera la produttività con un throughput e un time-to-results più rapidi. risoluzione spaziale di 450 nm con prestazioni Guida e controllo ZEN navx incentrati sull'utente Tomografie in un minuto e 3D end-to-end ZEISS VersaXRM 615 estende i limiti della vostra esplorazione con una sorgente e una tecnologia ottica innovative. Il flusso più elevato e la ricognizione basata sull'intelligenza artificiale consentono di ottenere tomografie più rapide con risoluzione e contrasto ai vertici del settore. risoluzione spaziale di 500 nm con RaaD sorgente sigillata ad attivazione rapida da 25W Modalità FAST abilitata da FPX ZEISS Xradia 515 Versa offre una risoluzione ai vertici della categoria in una piattaforma di lavoro, superando la barriera di un micron per l'imaging 3D e rendendo la ricerca di sincrotrone ancora più pratica per i centri di imaging di medie dimensioni e i laboratori industriali. risoluzione spaziale di 500 nanometri 40 nm di voxel minimo ottenibile

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VIDEO

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.