La nanotomografia a raggi X di sincrotrone consente l'imaging 3D non distruttivo su scala nanometrica, ma è necessario richiedere un tempo di fascio molto limitato. E se non dovessi più aspettare il tempo del sincrotrone? Immaginate di poter disporre di capacità di sincrotrone nel vostro laboratorio. Con la famiglia ZEISS Xradia Ultra, avete a disposizione microscopi a raggi X 3D non distruttivi (XRM) che offrono una risoluzione su scala nanometrica con una qualità simile a quella di un sincrotrone. Scegliete tra due modelli: ZEISS Xradia 810 Ultra e ZEISS Xradia 800 Ultra sono progettati per ottenere una qualità d'immagine ottimale per le applicazioni più frequenti.
Imaging non distruttivo in ambiente nativo
Imaging 3D a raggi X su scala nanometrica con risoluzione spaziale fino a 50 nm e dimensioni dei voxel di 16 nm
esperimenti 3D e 4D in situ
Quantificazione delle nanostrutture e utilizzo dei dati per la modellizzazione
Esplorazione di materiali duri e morbidi
Potenziate la vostra ricerca con l'imaging non distruttivo in scala nanometrica
Sfruttate l'esclusivo imaging non distruttivo per osservare in 3D i fenomeni su scala nanometrica nei loro ambienti nativi.
Approfittate dell'unico strumento che colma il divario tra gli XRM con risoluzione sub-micronica (come ZEISS Xradia Versa) e l'imaging 3D a più alta risoluzione, ma distruttivo, come i FIB-SEM
Utilizzate soluzioni integrate in situ per eseguire l'imaging a raggi X 3D / 4D non distruttivo nel vostro laboratorio, con una risoluzione fino a 50 nm e una dimensione del voxel di 16 nm.
Accelerate la vostra ricerca aggiungendo queste capacità uniche al vostro portafoglio analitico.
Ottenere un contrasto e una qualità d'immagine superiori
Osservate i difetti in 3D senza distruggere il campione o alterare i dati con artefatti di taglio.
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