Sistemi di ispezione Hitachi

... automobilistico. L'ottimizzazione della sequenza di ispezione consente una velocità di ispezione dei difetti di oltre quaranta fogli di wafer da 200 mm all'ora. - Rilevamento dei difetti con il metodo ...

... Maggiore produttività e sensibilità di rilevamento per la produzione di grandi volumi - Come sistemi di ispezione dei difetti dei wafer in campo scuro, i sistemi DI4600 contribuiscono ...

... rilevati dal sistema di ispezione della superficie del disco sviluppato e valutato, che misura lo stesso mandrino mediante interferenza ottica, irradiazione laser del cuscinetto multiplo e il nuovo metodo ...

... Un sistema di ispezione superficiale ad alta precisione per substrati e dischi dotato di una sofisticata funzione di classificazione dei difetti mediante irradiazione laser di multi dearing e di un nuovo ...

... Il tester per testine della serie BM3100 è un'apparecchiatura potente che misura l'ampiezza del campo magnetico di una testina di registrazione magnetica. Utilizzando un microscopio a forza magnetica (MFM), è in grado di misurare l'ampiezza ...

... Sistema di ispezione delle lastre di vetro per il controllo della contaminazione nella produzione di pannelli LCD e EL organici di piccole e medie dimensioni. La tecnologia proprietaria Hitachi consente ...