Sistemi di misurazione di spessore Chotest

... kg Dimensioni (LxLxH): 500×280×670 mm Peso: 30 kg Le macchine di misura flash VX8100 consentono di effettuare misure dimensionali rapide con un solo tasto. La serie VX8000 è adatta alla misurazione dimensionale ...

... Il CHOTEST Novator333 automatizza la misura video (AVMM) per una precisione e una velocità superiori. La telecamera ad alta risoluzione e le doppie ottiche telecentriche garantiscono una precisione submicronica, mentre lo stadio motorizzato ...

... La macchina di misura microscopica MX3200 consente di misurare un'ampia gamma di caratteristiche minime combinando l'imaging microscopico con la misurazione video tradizionale. Dotata di una torretta ...

... Numero articolo: SJ5100-UP300 Nome del prodotto: Macchina di misura universale della lunghezza Campo di misura interno: 0.7~900 mm Campo di misura esterno: 0~1040 mm Risoluzione: 0.01μm Ripetibilità: 0,1μm Passo massimo ...

... Funzioni 1. Misurazione completamente automatica di tutti i parametri dei misuratori di filettature cilindriche, dei misuratori di filettature cilindriche, dei misuratori di filettature coniche, dei misuratori di filettature coniche, ...

... maggior parte dei clienti. 5. Genera automaticamente il rapporto di prova in base allo standard selezionato. 6. Dopo la misurazione, il software è in grado di registrare vari parametri della filettatura e di visualizzare i dati di qualsiasi ...

... Funzioni 1. Misurazione completamente automatica di tutti i parametri dei misuratori di filettature cilindriche, dei misuratori di filettature cilindriche, dei misuratori di filettature coniche, dei misuratori di filettature coniche, ...

... Numero articolo: SJ5500 Nome prodotto: SJ5500 Macchina di misura universale per filettature Campo di misura interno: 2,5~620 mm Campo di misura esterno: 1.0~620 mm Risoluzione: 0.01μm Lunghezza massima di misurazione: ...

... inferiore del wafer viene ricostruita mediante misurazione senza contatto. Il potente software di misurazione e analisi garantisce un calcolo stabile dello spessore, della rugosità e della variazione ...

... Il sistema di misurazione delle dimensioni critiche e della sovrapposizione dei wafer è uno strumento di ispezione ottica in grado di eseguire sia l'ispezione delle dimensioni del piano XY ad alta precisione sia la misurazione ...