Macchine di ispezione di difetti Hitachi

... 200 mm, il CT1000 si sposta con precisione nella posizione critica del modello o nella posizione del difetto rilevata dall'unità di ispezione dei difetti. L'osservazione tridimensionale ...

... generazione N3 grazie alla funzione avanzata di revisione e analisi dei difetti per i wafer non stampati - Miglioramento delle prestazioni e dell'accuratezza della classificazione dei difetti grazie all'adozione ...

... piccoli contaminanti e di vari tipi di difetti sulle superfici dei wafer prima della modellazione. I difetti della superficie dei wafer, come i difetti di planarità dovuti a graffi superficiali, ...