Limite energetico superiore senza precedenti
Identificare e quantificare in modo inequivocabile tutti gli elementi presenti
Modelli di quantificazione TEM
Ottenere il successo in TEM, STEM e T-SEM con una quantificazione potente e facile da usare, basata sui fattori Cliff-Lorimer teorici e sperimentali e sull'interpolazione del fattore Zeta
Risoluzione stabile
Mappatura di strutture periodiche (atomo, strati) con elevata stabilità e utilizzando funzioni di correzione della deriva potenziate
Pacchetto software di analisi ESPRIT, flessibile e facile da usare, con un'interfaccia utente aperta: si vede quello che si fa.
Opzione di analisi off-line con accesso individuale o via LAN per reti di studenti o laboratori.
La sofisticata spettroscopia quantitativa a raggi X a dispersione di energia (EDS) per un completo data mining include:
Opzioni per le fasi di quantificazione: suggerimenti predefiniti per un facile utilizzo, impostazione individuale, modifica dettagliata e salvataggio/ricaricamento delle ricette
3 diversi approcci di quantificazione che coprono tutti i possibili scenari basati sui fattori Cliff-Lorimer teorici e sperimentali, nonché sui fattori Zeta e sull'interpolazione dei fattori Zeta mancanti
Linee di elementi ad alta energia specifiche per il TEM al di sopra dei 40 keV disponibili per la quantificazione, per garantire risultati inequivocabili
Scelta di 3 modelli di fondo vitale: uno fisico per il bulk e uno fisico per le lamelle sottili, oltre a un modello matematico
Correzione dell'assorbimento già inclusa nella quantificazione Cliff-Lorimer
L'esperienza pluriennale nell'EDS assicura la configurazione della soluzione migliore per il vostro microscopio specifico (STEM, TEM o SEM) grazie al design del rivelatore slim-line e all'ottimizzazione geometrica per ogni asta del microscopio e tipo di flangia EDS
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