Profilometro ottico ContourX-100
3Dcon interferometria a luce biancaper la misurazione della rugosità

Profilometro ottico - ContourX-100 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / con interferometria a luce bianca / per la misurazione della rugosità
Profilometro ottico - ContourX-100 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / con interferometria a luce bianca / per la misurazione della rugosità
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Caratteristiche

Tecnologia
ottico, 3D, con interferometria a luce bianca
Funzione
per la misurazione della rugosità
Specificazioni
industriale
Configurazione
da banco
Altre caratteristiche
senza contatto

Descrizione

Banco di lavoro semplificato e conveniente per la metrologia della rugosità Il profilometro ottico ContourX-100 stabilisce un nuovo punto di riferimento per la metrologia delle superfici senza contatto, accurata e ripetibile, a un prezzo di assoluta eccellenza. Il sistema, di dimensioni ridotte, offre capacità di misura ad alta risoluzione 2D/3D senza compromessi in un pacchetto snello che incorpora decenni di innovazione dell'interferometria a luce bianca (WLI) proprietaria di Bruker. I miglioramenti di nuova generazione includono una nuova fotocamera da 5 MP e uno stadio aggiornato per una maggiore capacità di stitching e una nuova modalità di misura, USI, per una maggiore convenienza e flessibilità per le superfici lavorate di precisione, i film spessi e le applicazioni tribologiche. Non troverete un sistema da banco con un valore migliore di ContourX-100. La migliore del settore Risoluzione Z Offre misure costanti e precise, indipendentemente dall'ingrandimento. Impareggiabile valore metrologico Offre un design semplificato senza compromettere le capacità di misura. Interfaccia software interfaccia software Fornisce un accesso intuitivo a un'ampia libreria di filtri e analisi pre-programmati. Il profilatore ContourX-100 è il culmine di oltre quattro decenni di innovazioni ottiche proprietarie e di leadership nel settore della metrologia, della caratterizzazione e dell'imaging delle superfici senza contatto. Il sistema utilizza la tecnologia WLI 3D e di imaging 2D per effettuare analisi multiple in un'unica acquisizione. ContourX-100 è robusto in tutte le situazioni di superficie, dallo 0,05% al 100% di riflettività. Con migliaia di analisi personalizzate e le interfacce utente VisionXpress™ e Vision64® , semplici e potenti, ContourX-100 è ottimizzato per la produttività sia in laboratorio che in fabbrica.

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