Profilometro a stilo Dektak XTL
3Dindustriale

Profilometro a stilo - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / industriale
Profilometro a stilo - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / industriale
Profilometro a stilo - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / industriale - immagine - 2
Profilometro a stilo - Dektak XTL - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / industriale - immagine - 3
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Tecnologia
3D, a stilo
Specificazioni
industriale

Descrizione

Profilatore QA/QC compatibile con i calibri per prestazioni ottimali a 300 mm Il profilatore a stilo Dektak XTL™ può accogliere campioni fino a 350 mm x 350 mm, portando la leggendaria ripetibilità e riproducibilità Dektak® alla produzione di wafer e pannelli di grande formato. Il Dektak XTL è dotato di isolamento pneumatico dalle vibrazioni e di una postazione di lavoro completamente chiusa con porta ad incastro facilmente accessibile, che lo rende ideale per gli ambienti di produzione più esigenti. L'architettura a doppia telecamera consente una maggiore consapevolezza dello spazio e l'elevato livello di automazione massimizza la produttività. Robusto automazione di impostazione e funzionamento Programma i fiduciari e i siti di misura illimitati per massimizzare la produttività e ridurre al minimo gli errori. Doppia telecamera Semplifica l'impostazione della misura e la navigazione verso i punti di interesse in modo più rapido. CARATTERISTICHE Il miglior software di automazione e analisi del settore Le funzioni software avanzate fanno di Dektak XTL il profilatore a stilo più potente e facile da usare. Il sistema utilizza il software Vision64 che consente di realizzare un numero illimitato di siti di misura, mappatura 3D e caratterizzazione altamente personalizzata con centinaia di strumenti di analisi integrati. Il software Vision Microform misura anche le forme, come il raggio di curvatura. Il riconoscimento dei modelli riduce al minimo l'errore dell'operatore e migliora l'accuratezza della posizione di misura. Il pacchetto software all-in-one combina la raccolta e l'analisi dei dati con un flusso di lavoro intuitivo. La Dektak XTL si basa su oltre 50 anni di esperienza nel campo degli stili e sulla personalizzazione delle applicazioni per gli impianti di produzione, per soddisfare le rigorose tabelle di marcia del settore di oggi e di domani. La stadiazione XY codificata ad alta precisione da 300 millimetri offre ai produttori uno strumento affidabile

---

VIDEO

Cataloghi

Nessun catalogo è disponibile per questo prodotto.

Vedi tutti i cataloghi di Bruker Handheld XRF Spectrometry
* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.