Profilometro ottico ContourX-200

3Dcon interferometria a luce biancaconfocale

Banco flessibile per la metrologia della struttura superficiale Il profilometro ottico ContourX-200 offre la miscela perfetta di caratterizzazione avanzata, opzioni personalizzabili e facilità d'uso per una metrologia 3D senza contatto veloce, accurata e ripetibile, la migliore della categoria. Il sistema, di dimensioni ridotte e compatibile con i gage, offre capacità di misura ad alta risoluzione 2D/3D senza compromessi, grazie a una fotocamera digitale da 5 MP con FOV più ampio e a un nuovo stadio XY motorizzato. Con una risoluzione e un'accuratezza dell'asse Z senza pari, ContourX-200 offre tutti i vantaggi riconosciuti dal settore della tecnologia proprietaria di interferometria a luce bianca (WLI) di Bruker, senza le limitazioni dei microscopi confocali convenzionali e dei profilatori ottici standard concorrenti. Automazione capacità di automazione Abilitazione delle routine per misure e analisi più rapide. Stadio motorizzato Stadio XY motorizzato Offre un funzionamento a bassa rumorosità e ad alta velocità per la metrologia quantitativa. Tolleranza alle vibrazioni design compatto Garantisce stabilità di misura e ripetibilità a prova di calibro. CARATTERISTICHE Metrologia senza compromessi, la migliore della categoria Costruito sulla base di oltre quattro decenni di innovazioni proprietarie di WLI, il profilometro ottico ContourX-200 offre risultati a basso rumore, alta velocità, accuratezza e precisione che la metrologia quantitativa richiede. Grazie all'uso di obiettivi multipli e al riconoscimento integrato delle caratteristiche, è possibile tracciare le caratteristiche in una varietà di campi visivi e con una risoluzione verticale sub-nanometrica, fornendo risultati indipendenti dalla scala per applicazioni di controllo qualità e monitoraggio dei processi in settori molto diversi. ContourX-200 è robusto in tutte le situazioni di superficie, dallo 0,05% al 100% di riflettività.