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Spettrometro ad infrarossi medi Scanning SFG
per ricerca e sviluppoper applicazioni scientificheda banco

Spettrometro ad infrarossi medi - Scanning SFG - EKSPLA - per ricerca e sviluppo / per applicazioni scientifiche / da banco
Spettrometro ad infrarossi medi - Scanning SFG - EKSPLA - per ricerca e sviluppo / per applicazioni scientifiche / da banco
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Caratteristiche

Tipo
ad infrarossi medi
Settore
per applicazioni scientifiche, per ricerca e sviluppo
Configurazione
da banco
Tipo di rilevatore
PMT
Altre caratteristiche
ad alta risoluzione, ad alta sensibilità
Lunghezza d'onda

Min.: 420 nm

Max.: 680 nm

Descrizione

Lo spettrometro SFG a scansione è uno spettrometro vibrazionale a generazione di somma di frequenze (SFG) a picosecondi progettato per l'indagine in situ di superfici e interfacce. Utilizza un impulso IR medio a banda stretta la cui lunghezza d'onda viene modificata punto per punto durante la misurazione, con il segnale SFG registrato da un fotomoltiplicatore a tempo per alta sensibilità e selettività.

Vantaggi
  • Sensibile e selettivo all'orientamento delle molecole nello strato superficiale
  • Intrinsecamente specifico per la superficie
  • Selettivo per le specie adsorbite
  • Sensibile a submonostrati di molecole
  • Applicabile a tutte le interfacce accessibili alla luce
  • Non distruttivo
  • Capace di alta risoluzione spettrale e spaziale


Applicazioni
  • Indagine di superfici e interfacce di solidi, liquidi, polimeri, membrane biologiche e altri sistemi
  • Studi di struttura superficiale, composizione chimica e orientamento molecolare
  • Rilevamento remoto in ambienti ostili
  • Indagine di reazioni superficiali in atmosfera reale, catalisi, dinamica superficiale
  • Studi di crescita epitassiale, elettrochimica, problemi materiali e ambientali


Spettroscopia vibrazionale a generazione di somma di frequenze
  • La SFG-VS è un metodo potente e versatile per l'indagine in situ di superfici e interfacce
  • Combina un raggio laser IR pulsato sintonizzabile con un raggio visibile per produrre un'uscita alla frequenza di somma
  • Altamente specifico per la superficie a causa della rottura di simmetria alle interfacce
  • Fornisce informazioni spettrali sulle transizioni vibrazionali di superficie
  • Consente l'estrazione di informazioni dettagliate sull'ordine e l'orientamento dei gruppi molecolari all'interfaccia


Caratteristiche e design del sistema
  • Laser Nd:YAG bloccato in modalità picosecondi e generatore parametrico ottico in un'unica unità
  • Modulo di spettroscopia con rilevatori di segnale basati su PMT, sistema di acquisizione dati e software dedicato LabView®
  • Scansione rapida della lunghezza d'onda per un rapido accesso a un ampio intervallo spettrale
  • Ampia regione spettrale: sintonizzazione automatica da 625 a 4300 cm⁻¹
  • Alta risoluzione spettrale (3 cm⁻¹)
  • Regolazione facile delle ottiche di polarizzazione
  • Design a due unità: sorgente di luce laser PT501 e modulo di spettroscopia
  • Porta temporale nel sistema di rilevamento riduce il rumore e consente il funzionamento in stanze illuminate
  • Dimensione del punto del raggio IR regolabile per evitare danni al campione
  • Interruttore di polarizzazione motorizzato per IR (standard), VIS e SFG (opzionale)
  • Monitoraggio continuo dell'energia per la normalizzazione degli spettri SFG
  • Grande compartimento campione personalizzabile per varie estensioni (ad esempio, trogolo di Langmuir-Blodgett, controllo di temperatura/umidità)
  • Tutti i raggi pulsati ad alta energia sono racchiusi per sicurezza; l'area del campione ha una copertura speciale


Modifiche e opzioni
  • Spettrometro SFG a doppia risonanza: consente l'indagine del accoppiamento dei modi vibrazionali agli stati elettronici su una superficie
  • Spettrometro SFG sensibile alla fase: consente la misurazione degli spettri complessi dei coefficienti di risposta non lineare di superficie
  • Raggio VIS a lunghezza d'onda singola o doppia: 532 nm e/o 1064 nm
  • Uno o due canali di rilevamento: segnale principale e riferimento
  • Opzione di spettroscopia di superficie a generazione di seconda armonica
  • Controllo di polarizzazione motorizzato per i raggi VIS e SFG
  • Compartimento campione più grande per ospitare il trogolo di Langmuir
  • Misurazione simultanea della polarizzazione s e p del segnale SFG


Controllo di polarizzazione
  • Misurazione simultanea della polarizzazione S e P nel sistema di rilevamento duale
  • Controllo di polarizzazione motorizzato per i raggi SFG, VIS e IR
  • Cambio automatico di polarizzazione e attenuazione dell'energia per misurazioni senza aprire lo spettrometro


Accessori
  • Supporto campione a sei assi
  • Camera campione sigillata a temperatura controllata
  • Area campione più grande per il trogolo di Langmuir
  • Motorizzazione del controllo di polarizzazione per i raggi VIS e IR, analizzatore di polarizzazione per il segnale SFG


Caratteristiche / Specifiche tecniche
  • Gamma spettrale: 625 – 4300 cm⁻¹ (Classico e Doppia risonanza, VIS 532 nm); 1000 – 4300 cm⁻¹ (VIS 420–680 nm e Sensibile alla fase)
  • Risoluzione spettrale: < 3 cm⁻¹
  • Metodo di acquisizione degli spettri: Scansione e scansione rapida della lunghezza d'onda
  • Geometria di illuminazione del campione: Lato superiore, riflessione
  • Geometria dei raggi di incidenza: Co-propagazione, non colineare
  • Angoli di incidenza: Fissi, VIS ~60°, IR ~55° (opzionale: sintonizzabile)
  • Lunghezza d'onda del raggio VIS: 532 nm (Classico e Sensibile alla fase); 532 nm e sintonizzabile 420–680 nm (Doppia risonanza)
  • Polarizzazione (VIS, IR, SFG): Lineare, selezionabile “s” o “p”, purezza > 1:100
  • Punto del raggio IR sul campione: Regolabile, ~200–600 µm (Classico e Doppia risonanza); Fisso (Sensibile alla fase)
  • Sensibilità: Spettri interfaccia aria-acqua (Classico e Doppia risonanza); Spettri campioni solidi (Sensibile alla fase)
  • Modello di sorgente di luce laser: PT501-SH
  • Durata dell'impulso: 29 ± 5 ps
  • Frequenza di ripetizione degli impulsi: 100 Hz
  • Sorgente UV-VIS per SFG a doppia risonanza: PT401
  • Caratteristiche fisiche (impronta): 1300 × 1200 mm (Classico), 1800 × 1200 mm (Doppia risonanza), 1400 × 1200 mm (Sensibile alla fase)
* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.