Lo spettrometro SFG a scansione è uno spettrometro vibrazionale a generazione di somma di frequenze (SFG) a picosecondi progettato per l'indagine in situ di superfici e interfacce. Utilizza un impulso IR medio a banda stretta la cui lunghezza d'onda viene modificata punto per punto durante la misurazione, con il segnale SFG registrato da un fotomoltiplicatore a tempo per alta sensibilità e selettività.
Vantaggi- Sensibile e selettivo all'orientamento delle molecole nello strato superficiale
- Intrinsecamente specifico per la superficie
- Selettivo per le specie adsorbite
- Sensibile a submonostrati di molecole
- Applicabile a tutte le interfacce accessibili alla luce
- Non distruttivo
- Capace di alta risoluzione spettrale e spaziale
Applicazioni- Indagine di superfici e interfacce di solidi, liquidi, polimeri, membrane biologiche e altri sistemi
- Studi di struttura superficiale, composizione chimica e orientamento molecolare
- Rilevamento remoto in ambienti ostili
- Indagine di reazioni superficiali in atmosfera reale, catalisi, dinamica superficiale
- Studi di crescita epitassiale, elettrochimica, problemi materiali e ambientali
Spettroscopia vibrazionale a generazione di somma di frequenze- La SFG-VS è un metodo potente e versatile per l'indagine in situ di superfici e interfacce
- Combina un raggio laser IR pulsato sintonizzabile con un raggio visibile per produrre un'uscita alla frequenza di somma
- Altamente specifico per la superficie a causa della rottura di simmetria alle interfacce
- Fornisce informazioni spettrali sulle transizioni vibrazionali di superficie
- Consente l'estrazione di informazioni dettagliate sull'ordine e l'orientamento dei gruppi molecolari all'interfaccia
Caratteristiche e design del sistema- Laser Nd:YAG bloccato in modalità picosecondi e generatore parametrico ottico in un'unica unità
- Modulo di spettroscopia con rilevatori di segnale basati su PMT, sistema di acquisizione dati e software dedicato LabView®
- Scansione rapida della lunghezza d'onda per un rapido accesso a un ampio intervallo spettrale
- Ampia regione spettrale: sintonizzazione automatica da 625 a 4300 cm⁻¹
- Alta risoluzione spettrale (3 cm⁻¹)
- Regolazione facile delle ottiche di polarizzazione
- Design a due unità: sorgente di luce laser PT501 e modulo di spettroscopia
- Porta temporale nel sistema di rilevamento riduce il rumore e consente il funzionamento in stanze illuminate
- Dimensione del punto del raggio IR regolabile per evitare danni al campione
- Interruttore di polarizzazione motorizzato per IR (standard), VIS e SFG (opzionale)
- Monitoraggio continuo dell'energia per la normalizzazione degli spettri SFG
- Grande compartimento campione personalizzabile per varie estensioni (ad esempio, trogolo di Langmuir-Blodgett, controllo di temperatura/umidità)
- Tutti i raggi pulsati ad alta energia sono racchiusi per sicurezza; l'area del campione ha una copertura speciale
Modifiche e opzioni- Spettrometro SFG a doppia risonanza: consente l'indagine del accoppiamento dei modi vibrazionali agli stati elettronici su una superficie
- Spettrometro SFG sensibile alla fase: consente la misurazione degli spettri complessi dei coefficienti di risposta non lineare di superficie
- Raggio VIS a lunghezza d'onda singola o doppia: 532 nm e/o 1064 nm
- Uno o due canali di rilevamento: segnale principale e riferimento
- Opzione di spettroscopia di superficie a generazione di seconda armonica
- Controllo di polarizzazione motorizzato per i raggi VIS e SFG
- Compartimento campione più grande per ospitare il trogolo di Langmuir
- Misurazione simultanea della polarizzazione s e p del segnale SFG
Controllo di polarizzazione- Misurazione simultanea della polarizzazione S e P nel sistema di rilevamento duale
- Controllo di polarizzazione motorizzato per i raggi SFG, VIS e IR
- Cambio automatico di polarizzazione e attenuazione dell'energia per misurazioni senza aprire lo spettrometro
Accessori- Supporto campione a sei assi
- Camera campione sigillata a temperatura controllata
- Area campione più grande per il trogolo di Langmuir
- Motorizzazione del controllo di polarizzazione per i raggi VIS e IR, analizzatore di polarizzazione per il segnale SFG
Caratteristiche / Specifiche tecniche- Gamma spettrale: 625 – 4300 cm⁻¹ (Classico e Doppia risonanza, VIS 532 nm); 1000 – 4300 cm⁻¹ (VIS 420–680 nm e Sensibile alla fase)
- Risoluzione spettrale: < 3 cm⁻¹
- Metodo di acquisizione degli spettri: Scansione e scansione rapida della lunghezza d'onda
- Geometria di illuminazione del campione: Lato superiore, riflessione
- Geometria dei raggi di incidenza: Co-propagazione, non colineare
- Angoli di incidenza: Fissi, VIS ~60°, IR ~55° (opzionale: sintonizzabile)
- Lunghezza d'onda del raggio VIS: 532 nm (Classico e Sensibile alla fase); 532 nm e sintonizzabile 420–680 nm (Doppia risonanza)
- Polarizzazione (VIS, IR, SFG): Lineare, selezionabile “s” o “p”, purezza > 1:100
- Punto del raggio IR sul campione: Regolabile, ~200–600 µm (Classico e Doppia risonanza); Fisso (Sensibile alla fase)
- Sensibilità: Spettri interfaccia aria-acqua (Classico e Doppia risonanza); Spettri campioni solidi (Sensibile alla fase)
- Modello di sorgente di luce laser: PT501-SH
- Durata dell'impulso: 29 ± 5 ps
- Frequenza di ripetizione degli impulsi: 100 Hz
- Sorgente UV-VIS per SFG a doppia risonanza: PT401
- Caratteristiche fisiche (impronta): 1300 × 1200 mm (Classico), 1800 × 1200 mm (Doppia risonanza), 1400 × 1200 mm (Sensibile alla fase)