Probe card HFTAP Series

Le prestazioni leader del settore del prodotto HFTAP K32 si aggiungono alla serie di schede sonda per test ad alta frequenza di FormFactor, tra cui le K10, K16 e K22 utilizzate per testare dispositivi DRAM a 1,0 GHz, 1,6 GHz e 2,2 GHz. L'avanzata tecnologia PCB, disponibile in esclusiva da FormFactor, consente la comunicazione più veloce tra il dispositivo in prova (DUT) e l'apparecchiatura di test automatizzata (ATE). Utilizzando l'architettura Matrix di FormFactor, le schede sonda HFTAP K32 possono eseguire test a velocità che nessun altro contattore full wafer può raggiungere. La capacità estesa dell'architettura della scheda di sonda HFTAP K32 di FormFactor consente ai clienti DRAM di eseguire test di velocità a livello di wafer fino a 3,2 GHz/6,4 Gbps per le memorie KGD (known-good-die) di prossima generazione. La recente adozione da parte dell'industria di sistemi integrati eterogenei, grazie alla tecnologia di packaging avanzato 2,5D e 3D, sta stimolando la domanda di KGD. Il vantaggio dei test KGD garantisce che il pacchetto finale impilato e assemblato non venga scartato a causa di un chip difettoso. Questa architettura avanzata di schede di misura MEMS viene utilizzata per verificare le prestazioni elettriche e la resa non solo dei singoli chip, ma anche dei dispositivi utilizzati nello stack HBM, compreso l'interposer a passo fine, per garantire le prestazioni del pacchetto completo. La soluzione della scheda di sonda HFTAP K32 consente ai clienti di ottenere maggiore intelligenza in qualsiasi fase del processo di integrazione eterogenea per i pacchetti avanzati, dove il modo tradizionale di ottimizzare la resa su un die monolitico di silicio non è più adeguato. Le soluzioni con scheda di ispezione HFTAP sono disponibili a velocità inferiori in base ai requisiti del dispositivo.