Probe card PH Series

I più recenti chip DRAM garantiscono una risposta estremamente rapida e fluida della memoria grafica e della memoria cache nelle console di gioco, nei personal computer e nelle applicazioni server. Permettono di aumentare la capacità di memoria in telefoni cellulari sempre più piccoli, IOT e altri dispositivi elettronici di consumo, poiché i semiconduttori vengono impilati in pacchetti compatti di die multitasking. Il test di questi nuovi dispositivi DRAM ad alte prestazioni e ad alta densità è ottimizzato con le schede di sonda per wafer Matrix e PH-Series di FormFactor, che migliorano l'efficienza e riducono il costo complessivo del test DRAM. Ogni singolo bit deve essere testato per garantire le massime prestazioni, rendendo il test a livello di wafer massicciamente parallelo essenziale per la produzione di volumi ad alta resa e a costi complessivi inferiori. L'architettura scalabile delle soluzioni di test DRAM FormFactor si adatta facilmente al numero elevatissimo di pin dei chip DRAM, alle dimensioni e all'architettura dei wafer, e fa un uso ottimale della potenza e dei contatti di precisione a bassa forza.