Probe card SmartMatrix

SmartMatrix™ 3000XP consente di eseguire test a contatto su wafer intero da 300 mm su DRAM mobile e commodity, memorie grafiche (GDDR), memorie ad alta larghezza di banda (HBM) e dispositivi di memoria emergenti. Sviluppata specificamente per supportare rampe di progettazione rapide e roadmap di prodotti avanzati, questa piattaforma estende l'architettura Matrix™ collaudata in produzione per affrontare un maggiore parallelismo delle schede di sonda, con oltre 3000 siti per wafer su un singolo touchdown. Utilizzando la tecnologia ATRE (Advanced Tester Resource Enhancement) di FormFactor, leader del settore, l'architettura supporta velocità di test elevate con clock rate di 125 MHz e fino a x32 segnali di gruppo condivisi. SmartMatrix 3000XP è in grado di eseguire test da -40°C a 125°C per i requisiti dei semiconduttori DRAM. Le elevate prestazioni e i brevi tempi di consegna di SmartMatrix 3000XP consentono di ottimizzare la resa e di accelerare il time-to-market dei dispositivi DRAM e di memoria avanzata.