Sorgente di ioni per spettrometria di massa

sorgente di ioni per spettrometria di massa
sorgente di ioni per spettrometria di massa
sorgente di ioni per spettrometria di massa
sorgente di ioni per spettrometria di massa
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Specificazioni
per spettrometria di massa

Descrizione

Una gamma di opzioni di sorgenti ioniche per l'analisi dei gas residui Hiden produce un'ampia varietà di sorgenti ioniche che possono essere montate sulla nostra gamma completa di RGA. I tipi di sorgente ionica sono cruciali per le prestazioni di un RGA e avere la possibilità di specificare quale sorgente si richiede assicura che i nostri RGA siano configurati su misura per applicazioni specifiche. Analisi termica TA/MS Studi di catalisi Cinetica di reazione Celle a combustibile CVD/MOCVD/ALCVD Monitoraggio ambientale Standard RGA Una configurazione radialmente simmetrica per applicazioni generali UHV Low Profile Ottimizzato per studi UHV TPD che consentono una maggiore vicinanza della sorgente ionica alla superficie di evoluzione Sorgente chiusa Per studi ad alta pressione con ingresso diretto di gas utilizzato insieme a uno stadio di pompaggio differenziale per l'analizzatore XBS Cross Beam Configurato specificamente per il monitoraggio e il controllo del tasso di deposizione MBE Basic Cross Beam Utilizzato per l'analisi di fasci molecolari, dove il fascio può essere suscettibile di condensare sulle superfici dello ionizzatore. La sorgente è caratterizzata da un percorso senza ostacoli attraverso la regione ionizzante della sorgente. Sono disponibili coperture esterne per proteggere il filtro di massa quadrupolare dalle specie che condensano Sorgente a fascio incrociato laser Include due percorsi ortogonali senza ostacoli per la ionizzazione laser dei protoni all'interno della regione della gabbia della sorgente, fornendo un'alternativa all'impatto degli elettroni e alla ionizzazione con attacco degli elettroni 4 Lens Ion Optics con ionizzatore integrato Consente inoltre l'analisi di ioni positivi e negativi a bassa energia generati esternamente all'analizzatore. Per studi di desorbimento stimolato da elettroni, fotoni e laser

---

Cataloghi

Nessun catalogo è disponibile per questo prodotto.

Vedi tutti i cataloghi di Hiden Analytical

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 giu 2024 Frankfurt am Main (Germania) Hall 12.0 - Stand A36

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.