Analizzatore di spessori di rivestimenti FT160 Series

di legabenchtopcon fluorescenza a raggi X

Analisi rapida e accurata di rivestimenti su scala nanometrica L'analizzatore XRF da banco FT160 è progettato per misurare le caratteristiche minime che si trovano sui PCB, sui semiconduttori e sui microconnettori di oggi. La capacità di misurare con precisione e rapidità le caratteristiche minime contribuisce ad aumentare la produttività e ad evitare costose rilavorazioni o scarti di componenti. L'ottica policapillare dell'FT160 è in grado di misurare rivestimenti su scala nm su elementi più piccoli di 50 µm, mentre l'avanzata tecnologia dei rivelatori garantisce un'elevata precisione pur mantenendo un tempo di misura ridotto. Altre caratteristiche, come il grande tavolo di campionamento, l'ampio sportello apribile, la telecamera ad alta definizione e la finestra di osservazione, facilitano il caricamento di oggetti di dimensioni diverse e l'individuazione della regione di interesse su un substrato di grandi dimensioni. Facile da usare, questo analizzatore si integra perfettamente con il vostro processo QA / QC, avvisandovi dei problemi prima che diventino una crisi. Progettato per l'analisi di microspot e rivestimenti ultrasottili, l'ottica e la tecnologia del rilevatore dell'FT160 sono ottimizzate per le caratteristiche più piccole. Ampia finestra di osservazione per vedere l'analisi da una distanza di sicurezza Metodi di misura conformi agli standard ISO 3497, ASTM B568 e DIN 50987 Finiture di prova per la conformità IPC-4552B, IPC-4553A, IPC-4554 e IPC-4556 Posizione automatica delle funzioni per una rapida impostazione dei campioni Scelta della configurazione dell'analizzatore ottimizzata per la vostra applicazione Misura di rivestimenti su scala nm su elementi più piccoli di 50 µm Raddoppio della produttività di analisi rispetto agli strumenti convenzionali Accoglie campioni di grandi dimensioni in un'ampia gamma di forme Design robusto e testato per un uso produttivo a lungo termine