Il sistema di test di nanoindentazione ad alta temperatura InSEM HT consente il riscaldamento indipendente della punta e del campione in un ambiente sotto vuoto ed è compatibile con molte camere SEM/FIB o camere sotto vuoto autonome. Con temperature fino a 800°C, è possibile simulare in situ condizioni di temperatura estreme per produrre dati di prova coerenti e affidabili. Le punte in carburo di tungsteno a cristallo singolo su un supporto in molibdeno sono ottimizzate per l'uso in applicazioni di test ad alta temperatura e sono disponibili in diverse geometrie.
- Attuatore InForce 50 con riscaldamento della punta per la misura dello spostamento capacitivo e l'attuazione della forza elettromagnetica con punte intercambiabili
- Riscaldamento del campione fino a 800°C con dimensioni del campione di 10 mm e sistema di montaggio del campione compatibile con il vuoto
- Elettronica di controllo ad alta velocità InQuest con velocità di acquisizione dati di 100kHz e costante di tempo di 20µs
- Sistema di movimento XYZ per il puntamento del campione
- Acquisizione video SEM per immagini SEM sincronizzate con i dati del test
- Esclusivo sistema di calibrazione della punta integrato nel software per una calibrazione rapida e accurata della punta
- Software di controllo e revisione dei dati InView con compatibilità con Windows® 10 e sviluppatore di metodi per esperimenti progettati dall'utente
Applicazioni
- Test ad alta temperatura
- Misure di durezza e modulo (Oliver-Pharr)
- Misurazione continua della rigidità
- Mappe delle proprietà del materiale ad alta velocità
- Misurazione del creep
- Sensibilità alla velocità di deformazione
Industrie
- Università, laboratori e istituti di ricerca
- Aerospaziale
- Produzione automobilistica
- Rivestimenti duri
- Energia nucleare
- Militare/difesa
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