Stand per microscopio XL Stand

La soluzione modulare con stativo Leica XL consente l'ispezione di campioni di grandi dimensioni ad elevati ingrandimenti stereoscopici per applicazioni come osservazioni di schede a circuiti stampati, ispezione di impronte lasciate da strumenti forensi, esame della documentazione e ispezione TFT/LCD. Il tavolino XY (opzionale) dispone di uno speciale sottopiatto ESD con elemento di fissaggio a scatto, che, quando combinato con la base di grandi dimensioni, blocca il sistema per evitare danni ESD a componenti elettronici sensibili. Il tavolino XY (opzionale) supporta campioni di grandi dimensioni fino a 400 X 450 mm e le posizioni del tavolino di 300 X 300 mm sono in grado di consentire l'analisi di campioni fino a 12" X 12". In questo modo, è possibile ispezionare documenti di dimensioni fino ad A4 in una volta, senza doverli riposizionare.