Diffrattometro XRD SDCOM

da laboratorio

Orientamento ultraveloce e flessibile del cristallo in un pacchetto compatto In grado di misurare cristalli di dimensioni a partire da 1 mm, l'SDCOM utilizza il metodo di scansione azimutale per determinare con precisione l'orientamento completo del reticolo di singoli cristalli in una sola rotazione di misura, impiegando solo pochi secondi. Adatto sia per la ricerca che per il controllo di qualità della produzione, l'SDCOM, versatile e accessibile, si adatta facilmente a un'ampia gamma di fasi di processo di wafer e lingotti e non richiede il raffreddamento ad acqua. La misurazione rapida e precisa dell'orientamento dei cristalli non è mai stata così accessibile: ecco SDCOM, il vostro XRD compatto e facile da usare. Il metodo di scansione azimutale consente di ottenere misure ultraveloci, con risultati in meno di cinque secondi. L'SDCOM offre il massimo livello di precisione, fino a 0,01o, e grazie a un'ampia gamma di supporti per campioni e dispositivi di trasferimento, tra cui un'opzione di marcatura per la direzione laterale del cristallo, questo compatto facile da usare è la soluzione ideale per molte applicazioni nell'ambito della lavorazione dei wafer e della ricerca. Caratteristiche e vantaggi Ultraveloce e preciso: metodo di scansione azimutale Il metodo di scansione azimutale richiede un solo cerchio di misura per raccogliere tutti i dati necessari a determinare l'orientamento, garantendo un'elevata precisione con un tempo di misura molto basso, dell'ordine di pochi secondi. Il campione viene ruotato di 360o, con la sorgente di raggi X e il rivelatore posizionati in modo da ottenere un certo numero di riflessioni per giro. Queste riflessioni consentono di misurare l'orientamento del reticolo cristallino rispetto all'asse di rotazione con un'elevata precisione in un breve periodo di tempo.