Diffrattometro XRD SDCOM

da laboratorioa singolo cristallo

In grado di misurare qualsiasi cristallo singolo con un diametro compreso tra 2 mm e 300 mm, l'SDCOM utilizza il metodo di scansione azimutale per determinare con precisione l'orientamento completo del reticolo dei cristalli singoli in una sola rotazione di misura, impiegando solo pochi secondi. Adatto sia per la ricerca che per la produzione e il controllo qualità, l'SDCOM, versatile e accessibile, si adatta facilmente a un'ampia gamma di fasi di processo di wafer e lingotti, con costi operativi minimi grazie all'assenza di requisiti per il raffreddamento ad acqua. Panoramica La misurazione rapida e precisa dell'orientamento dei cristalli non è mai stata così accessibile: ecco SDCOM, il vostro XRD compatto di facile utilizzo. Il metodo di scansione azimutale consente di ottenere misure ultraveloci, con risultati in meno di dieci secondi. Grazie al massimo livello di precisione, fino a 0,01o, e al supporto di un'ampia gamma di accessori, l'SDCOM è la soluzione ideale per molte applicazioni nell'ambito della lavorazione dei wafer e della ricerca. Caratteristiche e vantaggi Veloce e preciso: metodo di scansione azimutale Il metodo di scansione azimutale richiede una sola rotazione di misura per raccogliere tutti i dati necessari a determinare l'orientamento, fornendo risultati in 10 secondi senza compromettere la precisione. Il campione viene ruotato di 360o, con la sorgente di raggi X e il rivelatore posizionati in modo da ottenere un certo numero di riflessioni per giro. Queste riflessioni consentono di misurare l'orientamento del reticolo cristallino rispetto all'asse di rotazione con un'elevata precisione, fino a 0,01o.