I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sfruttano scanner di profili con laser per la misurazione dello spessore. Gli scanner proiettano una linea laser sulla superficie. Grazie alla linea laser è possibile compensare le inclinazioni del nastro ed eseguire una media dei profili. Il metodo di misurazione a linee laser consente anche la misurazione dello spessore di materiali strutturati, come superfici goffrate o lamiere forate.
I sistemi di sensori thicknessGAUGE C.LP sono utilizzati per una misurazione precisa dello spessore di nastri e lastre. Il sistema può essere utilizzato per la misurazione di una traccia fissa, ad esempio per la misurazione della linea centrale (spessore centrale), o per la misurazione dello spessore sul bordo. Grazie all’unità lineare, thicknessGAUGE può essere utilizzato anche per la misurazione dello spessore trasversale fino a una larghezza del nastro di 400 mm.