Microscopio a forza atomica NaioAFM

per ispezione di superficiedi misuraper misurazione della rugosità di superficie

Il NaioAFM è il microscopio a forza atomica ideale per la nanoeducazione e la ricerca di base su piccoli campioni. Questo sistema AFM all-in-one offre prestazioni solide e maneggevolezza, con un prezzo e un ingombro adatti a chiunque e in qualsiasi luogo. - Sistema AFM plug-and-play tutto in uno - Tutte le modalità operative standard - Famosamente facile da usare Sistema AFM plug-and-play tutto in uno Il sistema NaioAFM è costituito solo dalla testa di scansione montata su una piccola piattaforma antivibrazioni con controller integrato. Sono necessari solo pochi minuti per impostare e preparare una misura. Ideale per un corso universitario o per un'aula scolastica, il NaioAFM è progettato in modo robusto e insensibile alla manipolazione incauta da parte di utenti inesperti, ma funziona bene su un'ampia varietà di campioni. Tutte le modalità operative standard NaioAFM vanta una selezione versatile di modalità di misura, nonostante il suo design di base. NaioAFM è in grado di misurare in tutte le modalità operative standard e può anche eseguire la caratterizzazione elettrica di base e la spettroscopia di forza di base. Se state imparando a usare l'AFM o avete bisogno solo di funzionalità AFM di base per la vostra ricerca, NaioAFM è lo strumento preferito da oltre un decennio. Ci vogliono solo 10 minuti per imparare Il NaioAFM è il microscopio a forza atomica più facile da usare mai costruito. Grazie al supporto integrato per la manipolazione, come il chip di allineamento del cantilever, non è necessario avere mani perfettamente ferme per impostare questo AFM per la misurazione. Non richiede nemmeno l'allineamento laser: basta collegare tutto, posizionare un cantilever e il campione e in pochi minuti si ottengono i primi risultati.