Microscopio a forza atomica LensAFM

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Il Nanosurf LensAFM è un microscopio a forza atomica che si colloca dove i microscopi ottici e i profilometri raggiungono i loro limiti di risoluzione. Viene montato come un normale obiettivo, estendendo così la risoluzione e le capacità di misura di questi strumenti. Il LensAFM non solo fornisce informazioni sulla topografia superficiale 3D, ma può anche essere utilizzato per analizzare varie proprietà fisiche di un campione di misura. Integrazione perfetta In un numero sempre crescente di situazioni, i ricercatori cercano di combinare le tecniche di microscopia ottica e di forza atomica. La facilità d'uso, la capacità di screening e i requisiti minimi di preparazione del campione dei microscopi ottici sono quasi impareggiabili. Tuttavia, quando la risoluzione di un obiettivo 100x non è sufficiente per esaminare piccole caratteristiche al di là della risoluzione dello strumento, entra in gioco LensAFM. Grazie alle sue dimensioni eccezionalmente ridotte e all'ingegnoso meccanismo di montaggio, è sufficiente ruotare la torretta del microscopio ottico o del profilometro ed eseguire la scansione. Migliorate la vostra microscopia ottica con l'AFM per approfondimenti avanzati Poiché la risoluzione della microscopia ottica è limitata dalla lunghezza d'onda della luce, esiste una barriera nella risoluzione che si può ottenere con il sistema ottico. In un numero sempre maggiore di applicazioni, ciò richiede la combinazione di microscopia ottica e microscopia a forza atomica. Inoltre, l'AFM supera i problemi di caratterizzazione di campioni trasparenti o altrimenti difficili da valutare otticamente. Ma non solo la topografia grossolana di un campione è di interesse: L'AFM permette anche di conoscere altre proprietà dei materiali,