Microscopio AFM Alphacen 300

industrialeautomatizzato

Il tip-scanning AFM per campioni pesanti e di grandi dimensioni fino a 300 mm -Sistema AFM standard - Fase di campionamento 300 mm x 300 mm - Ideale per campioni fino a 45 kg Nanosurf è leader di mercato per sistemi sviluppati su misura per campioni grandi e pesanti. Negli ultimi anni il nostro team ha costruito una notevole base di conoscenze sviluppando queste fasi personalizzate per vari clienti. Utilizzando questo vasto bagaglio di conoscenze, abbiamo ora sviluppato un prodotto standard per campioni di grandi dimensioni fino a 300 mm o campioni pesanti fino a 45 kg. Alphacen 300 riduce il prezzo e i tempi di consegna rispetto ad un sistema personalizzato. Eseguire serie di misure automatizzate Alphacen 300 include un potente software di automazione che permette all'utente di preselezionare i luoghi di interesse, sia su un'immagine ottica che su una mappa del palcoscenico, e permette al sistema di raccogliere le immagini senza alcun intervento da parte dell'utente. Campioni di vetro pesante La maggior parte dei grandi campioni AFM sono in grado di gestire campioni planari fino a 200 mm, tipicamente orientati all'analisi di wafer a semiconduttore. Tuttavia, uno dei limiti di questi sistemi è il peso del campione che possono gestire. Alphacen 300 risponde all'esigenza di un AFM standard in grado di effettuare l'imaging di campioni grandi e pesanti con un limite di peso fino a 45 kg. La corsa dello stadio Z di 50 mm consente anche l'imaging di campioni che non sono sottili wafer di silicio. I campioni grandi e pesanti sono abbastanza comuni nell'industria ottica, ad esempio nella produzione di lenti di grandi dimensioni e nell'industria dei semiconduttori, ad esempio cassette assemblate o prodotti finiti.