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Microscopio ottico Eclipse Ci-POL
per ispezione di materialeper ispezione di superficieper analisi

Microscopio ottico - Eclipse Ci-POL - Nikon Metrology - per ispezione di materiale / per ispezione di superficie / per analisi
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Caratteristiche

Tipo
ottico
Applicazioni tecniche
per ispezione di materiale, per ispezione di superficie, per analisi, da ricerca, per gemmologia, per ispezione di inclusioni non metalliche, per misurazioni su film sottili, educativo, industriale, multiuso, per controllo di qualità, per ricerca sui materiali, per medicina legale
Ergonomia
dritto
Testa
trinoculare, binoculare
Tecniche di osservazione
in campo chiaro, a fluorescenza, polarizzato, spettrale, a sfondo scuro, a contrasto interferenziale differenziale
Configurazione
da banco, compatto, portatile
Sorgente luminosa
a illuminazione coassiale
Altre caratteristiche
modulare, a videocamera digitale, ad alta risoluzione, ergonomico, per l'identificazione di amianto, a forte ingrandimento, a grande distanza di lavoro, di elaborazione di immagini, economico, di semplice installazione, a forte contrasto, con regolazione dell'intensità luminosa, a temperatura variabile, ad alta precisione, per campioni piatti, per acquisizione di immagini
Ingrandimento

Max.: 100 unit

Min.: 5 unit

Peso

14 kg
(30,9 lb)

Lunghezza

271 mm
(10,7 in)

Larghezza

247 mm
(9,7 in)

Altezza

450 mm
(17,7 in)

Descrizione

La serie di microscopi polarizzatori ECLIPSE LV100N POL e Ci-POL viene utilizzata per studiare le proprietà birifrangenti di campioni anisotropi osservando il contrasto dell'immagine e i cambiamenti di colore. Nikon offre sistemi per lo studio quantitativo e qualitativo. Tutte le applicazioni, dalla ricerca alla routine, sono soddisfatte L'eccellente ottica Nikon CFI60-POL fornisce immagini eccellenti agli oculari e alle fotocamere digitali Nikon. LV100N POL consente una serie di studi dalla conoscopia all'ortoscopia, utilizzando una gamma completa di accessori dedicati. Ci-POL consente una serie di studi su un microscopio compatto. Nikon ECLIPSE LV100N POL e Ci-POL Questi strumenti sono dotati di illuminazione episcopica e diascopica per lo studio mineralogico di sezioni grossolane o sottili. I materiali otticamente attivi possono essere studiati per l'analisi della composizione e della distribuzione. Serie di obiettivi Nikon CFI60-POL Gli innovativi obiettivi POL di Nikon, privi di deformazioni, a lunga distanza di lavoro, ad alto NA e con componenti in vetro ecologico, forniscono immagini chiare e ad alto contrasto all'osservatore e alla fotocamera digitale. Illuminazione diascopica ed episcopica Con l'illuminatore LV-UEPI-N è possibile effettuare studi episcopici. La lampada da 12V-50W viene utilizzata per l'illuminazione diascopica ed episcopica. La commutazione dell'illuminazione, da epi a dia, è un'operazione semplice. Gamma completa di accessori ottici Una gamma completa di accessori per l'analisi quantitativa è fornita dai compensatori a cuneo di Berek, Senarmont e Quartz, supportati da uno stadio meccanico con scala vernière. corsa di messa a fuoco lunga 30 mm Gli stativi LV100N POL e Ci-POL accettano campioni alti e grossolani grazie alla corsa di messa a fuoco extra-lunga di 30 mm, che supera la normale gamma dei modelli di microscopio diascopico.

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.