Il vetro a bassa emissività (Low-E), comunemente utilizzato per finestre e componenti di facciata per migliorare l'efficienza energetica degli edifici, pone sfide significative ai dispositivi tradizionali a infrarossi (IR). Questo tipo di vetro è progettato come vetro isolante a più lastre con un lato rivestito a bassissima emissività. I dispositivi a infrarossi misurano tradizionalmente la temperatura del vetro dall'alto, quando le lastre escono dal forno. Tuttavia, a causa della bassa emissività del lato rivestito, questi dispositivi spesso faticano a ottenere letture precise della temperatura, causando inefficienze e potenziali problemi di qualità nel processo di produzione.
Il sistema di ispezione del vetro dal basso verso l'alto (GIS) di Optris introduce una soluzione innovativa a questa sfida. Installando più immagini a infrarossi sotto la linea di tempra, il sistema è in grado di misurare costantemente la temperatura sul lato non rivestito e ad alta emissività del vetro. Questo approccio garantisce letture precise della temperatura, fondamentali per mantenere la qualità del vetro. I recenti progressi nella tecnologia IR hanno facilitato lo sviluppo di imager più compatti e non raffreddati, adatti a queste installazioni strette. In precedenza, tali installazioni non erano realizzabili con gli ingombranti scanner di linea tradizionalmente utilizzati nel settore al di sopra della linea di produzione. Il design compatto e gli accessori di dimensioni ridotte di questi nuovi imager consentono un innovativo pacchetto bottom-up che migliora significativamente l'accuratezza e l'affidabilità delle misure di temperatura del vetro.
Le termocamere all'infrarosso Optris, PI 450i G7 e PI 640i G7, sono modelli specifici della serie PI, sviluppati appositamente per l'industria del vetro.
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