Sistema di ispezione di superficie di vetro GIS 640 R series

a infrarossiIRFPA

I vetri a bassa emissività (Low-E), progettati per migliorare l'efficienza energetica degli edifici, presentano sfide significative per i tradizionali dispositivi a infrarossi (IR), che misurano la temperatura del vetro dall'alto quando le lastre escono dal forno. Comunemente utilizzato per finestre e componenti di facciata, il vetro Low-E è tipicamente costruito come vetro isolante a più lastre con un rivestimento a bassa emissività. Questa bassa emissività complica l'accuratezza della misurazione della temperatura del vetro da parte dei tradizionali dispositivi di scansione lineare a infrarossi, poiché in genere mirano al lato rivestito dall'alto, causando potenziali imprecisioni nelle letture della temperatura e problemi di controllo della qualità. Il sistema di ispezione del vetro dall'alto verso il basso (Top-Down GIS) è stato sviluppato per risolvere questo problema. Questo sistema mira a fornire misurazioni accurate della temperatura del vetro Low-E durante la produzione. A differenza del GIS Bottom-Up, che misura da sotto il vetro, il GIS Top-Down misura dall'alto e utilizza un pirometro di riferimento aggiuntivo dal basso per correggere l'emissività. Questo doppio approccio di misurazione garantisce l'individuazione di superfici difettose o disomogenee e consente di regolare il riscaldamento o il raffreddamento in base alla distribuzione della temperatura, garantendo una qualità e una coerenza ottimali nella produzione del vetro. Il riferimento dal basso è necessario per due motivi: il lato superiore rivestito del vetro ha una bassa emissività, rendendo difficile una misurazione accurata, e spesso non c'è spazio sufficiente per le telecamere per misurare dal basso a causa della bassa altezza del forno. Questa configurazione richiederebbe più di una telecamera e una vista grandangolare potrebbe influenzare le misure in modo diverso.