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... lineare
Asse Z: vite a sfere +
guida lineare + servomotore AC con controller di movimento OPPURE
guida lineare + motore lineare con controller di movimento
Risoluzione assi X-Y: 0,1 µm
Funzioni di ispezione ...
TRI Test Research Europe GmbH
... con contemporanea minimizzazione della visualizzazione di difetti. La moderna interfaccia grafica del software DEFECTOVISION IR si basa sulla comprovata piattaforma DS FOERSTER ed è stata ampliata con nuove strutture di comando e visualizzazioni. ...
... dispositivi di scansione lineare a infrarossi, poiché in genere mirano al lato rivestito dall'alto, causando potenziali imprecisioni nelle letture della temperatura e problemi di controllo della qualità. Il sistema di ...
... cliente quel livello extra di comfort sapendo che il loro prodotto è stato monitorato per l' ispezione di qualità. Si tratta di un'analisi continua per i sistemi standard e di automazione che richiede l'acquisizione di ...
... diverse esigenze o Tecnologia a Raggi X o Tecnologia ad infrarossi o Tecnologia a visione artificiale - Gestione di segnali di scarto da sistemi esterni - Facile Inserimento in qualsiasi linea ...
FT SYSTEM
... Valutazione dell'omogeneità Rilevamento della contaminazione Determinazione del contenuto di umidità HypeReal, un sistema di ispezione unico sviluppato da INDATECH, è lo strumento ideale per analisi rapide e non distruttive ...
... definizione, misurazione della temperatura a infrarossi e ispezione automatica basata sul riconoscimento delle immagini di trasformatori, apparecchiature di commutazione, reattori e attrezzature correlate. Il sistema ...
... Supporta test convenzionali per attributi fisici tramite campionamento (peso, spessore, durezza, diametro)
Controllo ...
... mancanti, il carico errato e le parti mancanti dei prodotti finiti durante lo stoccaggio. - Lo scanner a infrarossi superiore si muove lungo la guida lineare per misurare il volume dell'oggetto, mentre l'oggetto viene ...
... Lo strumento di ispezione ottica FRT MicroProf DI consente di ispezionare wafer strutturati e non strutturati durante l'intero processo di produzione. Combinando l' ispezione e la metrologia 2D, MicroProf DI offre soluzioni ...
... Abstract: Il sistema di ispezione on-line per la qualità della superficie del rivestimento è usato per rilevare vari difetti di superficie comuni nel processo di produzione. Il sistema può trovare le ...
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