Diffrattometro a raggi X XtaLAB Synergy-ED

da laboratorioa singolo cristallo

DIFFRATTOMETRO ELETTRONICO COMPLETAMENTE INTEGRATO Un sistema che qualsiasi cristallografo a raggi X troverà intuitivo da usare XtaLAB Synergy-ED è un nuovo diffrattometro elettronico completamente integrato, che crea un flusso di lavoro senza soluzione di continuità dalla raccolta dei dati alla determinazione della struttura di strutture molecolari tridimensionali. XtaLAB Synergy-ED è il risultato di una collaborazione innovativa per combinare sinergicamente le nostre tecnologie principali: Il rivelatore ad alta velocità e ad alta sensibilità di Rigaku per il conteggio dei fotoni (HyPix-ED) e la piattaforma software all'avanguardia per il controllo degli strumenti e l'analisi dei singoli cristalli (CrysAlisPro per ED), e la lunga esperienza e la leadership di mercato di JEOL nella progettazione e produzione di microscopi elettronici a trasmissione. La caratteristica chiave di questo prodotto è che fornisce ai ricercatori una piattaforma integrata che permette un facile accesso alla cristallografia elettronica. L'XtaLAB Synergy-ED è un sistema che qualsiasi cristallografo a raggi X troverà intuitivo da utilizzare senza dover diventare un esperto di microscopia elettronica. L'XtaLAB Synergy-ED è stato progettato per rispondere alla crescente necessità di studiare campioni sempre più piccoli nella ricerca strutturale. Con la cristallografia a raggi X, la più piccola dimensione possibile del cristallo è di 1 micron, e solo allora quando si utilizzano le sorgenti di raggi X più luminose e i rivelatori senza rumore. Tuttavia, negli ultimi anni, c'è stata una crescente necessità di analizzare la struttura di sostanze che formano solo microcristalli, cristalli che hanno dimensioni di poche centinaia di nanometri o meno. Negli ultimi anni, è stato sviluppato un nuovo metodo analitico, MicroED, che utilizza la diffrazione elettronica su un microscopio elettronico TEM per misurare le strutture molecolari 3D da materiali nanocristallini.