Microscopio con sonda di scansione VT SPM

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25 K 1500 K 1500 K Vero pA STM Spettroscopia dI/dV migliorata Deflessione del fascio AFM Sensore QPlus AFM Evaporazione in situ L'Omicron VT SPM è un microscopio ben consolidato in molti laboratori di ricerca per la microscopia a scansione della sonda. Ha vinto l'importante premio di ricerca e sviluppo nel 1996. Ad oggi sono stati consegnati e installati con successo più di 500 strumenti in tutto il mondo. Il volume dei risultati della ricerca e delle pubblicazioni è una prova conclusiva delle prestazioni, della qualità e della versatilità del progetto SPM a temperatura variabile. L'SPM a temperatura variabile utilizza la più recente tecnologia di preamplificazione per la microscopia e la spettroscopia a scansione sub-pA. Il funzionamento stabile a bassa corrente è importante per lo studio di superfici sensibili o a bassa conducibilità. Per la spettroscopia di modulazione una compensazione elettronica riduce l'influenza delle correnti parassitarie. Questo fa risparmiare tempo di acquisizione e migliora i risultati. La tecnologia AFM della SPM a temperatura variabile si basa su oltre 20 anni di esperienza nella microscopia a forza atomica in UHV. È stato continuamente sviluppato e migliorato. Il classico AFM a deflessione del fascio per AFM a contatto e senza contatto offre la flessibilità per molte modalità operative e diversi tipi di cantilever. Ad esempio, sono disponibili AFM ad alta risoluzione, Friction Force Microscopy, Electrostatic Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (SKPM) e Magnetic Force Microscopy (MFM).